【英语版】国际标准 IEC TS 62607-6-2:2023 EN 纳米制造-关键控制特性-第6部分2：石墨烯-层数：原子力显微镜，光学传输，拉曼光谱 Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-2: Graphene - Number of layers: atomic force microscopy, optical transmission, Raman spectroscopy.pdf

IECTS62607-6-2:2023ENNanomanufacturing-Keycontrolcharacteristics-Part6-2:Graphene-Numberoflayers:Atomicforcemicroscopy,Opticaltransmission,Ramanspectroscopy是关于石墨烯层数测定的标准。

*Atomicforcemicroscopy(AFM)是一种纳米级的显微镜技术，通过测量探针与样品之间的相互作用力来识别样品的表面结构和形貌，包括石墨烯的层数。通过观察石墨烯的形貌图像，可以确定石墨烯的层数。

*Opticaltransmission是一种光学方法，通过测量石墨烯样品的光穿透率来测定石墨烯的层数。当石墨烯的层数增加时，电子散射也会增加，这将导致石墨烯的光学性能发生变化。通过比较石墨烯样品的实际测量值和参考值，可以确定石墨烯的层数。

*Ramanspectroscopy是一种用于分析材料内部结构和化学成分的技术，特别是用于石墨烯的分析。Raman光谱可以提供有关石墨烯层数的信息，包括层数和层间距。通过比较石墨烯样品的实际测量值和参考值，可以确定石墨烯的层数。

这三个方法都是用于测定石墨烯的层数，其中AFM是最直接的方法，因为它可以直接观察石墨烯的表面结构和形貌；OT是通过测量光穿透率来间接推断石墨烯的层数；而RS则提供了一种更全面和准确的方法来分析石墨烯的结构和化学成分。在实际应用中，这三种方法通常结合使用，以获得更准确和可靠的测量结果。