热释电系数测试中帕尔帖半导体制冷片正弦波温度控制解决方案.pdfVIP

真空压力温度控制上海依阳实业有限公司

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热释电系数测试中帕尔帖半导体制冷片

正弦波温度控制解决方案

SolutionofSineWaveTemperatureControlofPeltierSemiconductor

RefrigerationChipinPyroelectricCoefficientTest

摘要：针对动态法热释电系数测试中的交变温度控制，特别是针对帕尔贴半导体制冷片正弦

波温度控制中存在的稳定性差问题，本文提出了改进的解决方案。解决方案的核心是采用外

部设定点技术的双向PID控制器以及外置信号发生器，此方案可很好的实现帕尔贴制冷片正弦

波温度的精确控制，保证了热释电系数测量的准确性。依此方案所构成的闭环控制回路可形

成独立的温控装置，也可配套集成到上位机控制的中央控制系统。

1.问题的提出

热释电系数是表征热释电材料性能的重要参数，代表了热释电材料极化随温度的变化率。按

照被测样品的加热方式，热释电系数测试主要分为动态法和静态法两种。

（1）动态法是采用调制方法使被测样品的温度发生变化，温度变化形式是正弦波。动态法

所加载的变温范围较小，反应的是某一基准温度下的热释电系数。

（2）静态法是用连续加热方式使被测样品升温，通过测量热释电电荷与温度关系来求得热

释电系数。静态法测量的热释电系数反映的是一个温度范围内的平均响应。

由于动态法是在某一较窄的温度范围内测量热释电系数，所以热释电系数测试常用动态法。

在动态法测量中，样品温度的正弦波调制一般会采用帕尔贴半导体制冷片、黑体辐射和激光

等方式，但能产生正弦温度波的最佳调制方式是帕尔贴制冷片，且有温度波生成装置简单和可对

较大样品进行温度调制的突出特点。

采用帕尔贴半导体制冷片进行热释电系数测量的典型装置如图1所示[1]。

图1热释电系数典型测量装置结构示意图[1]

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与黑体和激光形式的温度调试方法相比，帕

尔贴制冷片的温度调制相对比较准确，理论上采

用帕尔贴制冷片可以将温度准确控制在某一设定

点处上下波动生产正弦温度波，但目前采用帕尔

贴半导体制冷片还无法进行完美的控制来产生准

确和标准的正弦温度波。

如文献[1]中所报道的热释电系数测量装置，

尽管采用了正弦波信号发生器，但信号发生器只

能控制帕尔贴制冷片的驱动电流按照正弦波变

化，并未真正按照正弦波控制温度变化，如图

2所示，因此使得所形成的正弦温度波形很难达

到稳定，这主要是装置散热所造成的影响。图2帕尔贴制冷片温度调制测试波形[1]

2.问题分析

对于帕尔贴半导体制冷片的温度控制，若要实现准确、稳定、可任意设定和调节的正弦波温

度输出，需要解决以下两方面的问题：

（1）直接对温度进行控制，能按照所设定幅度和频率变化直接输出正弦形式的温度波，即控

制器设定值是一个幅度随时间变化的正弦波。

（2）需要解决反馈控制问题，即能根据正弦温度波设定曲线以及反馈的温度信号自动调节加

热和制冷电流，使输出的温度变化与设定曲线始终一致，由此主动消除系统中的散热以及环境温

度变化带来的影响，最终使得所输出的正弦温度波始终长时间保持稳定。

3.解决方案

针对上述热释电系数测试中存在的正弦波温度控制问题，特别是为了解决帕尔贴半导体制冷

片输出准确和稳定的正弦温度波难题，本文提出了如图3所示的解决方案。

图3帕尔帖正弦波温度发生器结构示意图