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第6章数字电子技术基础实验

6.1逻辑门电路功能及叁数的测试

6.1.1实验目的

1掌握TTL门电路逻辑功能的测试方法。

2了解TTL与非门主要参数的含义及测试方法。

3掌握数字集成芯片的使用，学习检查集成芯片的好坏。

6.1.2实验设备

1示波器；

2直流稳压电源；

3数字电路实验箱；

4万用表；

6.1.3基础知识要点及参考电路

1门电路逻辑功能的测试

TTL逻辑门电路系列有很多不同功能、不同用途的逻辑门电路。通过实验的方法逐项验

证其真值表，测试其逻辑功能。同时，根据逻辑功能是否正确，可以初步判断集成芯片的好

坏。

2TTL与非门主要参

（1)输出高电平电压UOH：输出高电平电压UOH是指与非门有一个以上输入端接地

或接低电平时的输出电平值。空载时，UOH必须大于标准高电平(USH=2.4V)，测试电路如

图6.1.1所示。

（2)输出低电平电压UOL：输出低电平电压UOL是指与非门所有输人端都接高电平

时的输出电平值。空载时，UOL必须小于标准低电平(USL=0.4V)，测试电路如图6.1.2所示。

图6.1.1测试UOH电路图6.1.2测试UOL电路

3)输入短路电流I：输入短路电流I是指与非门被测输入端接地，其余输入端悬空

ISIS

时，由被测端流出的电流。一般，IIS1.6mA，测试电路如图6.1.3所示。

4)扇出系N：扇出系N是指一个与非门能带同类门的最大数目，用以衡量带负载

I

的能力。计算为：NOL其中I为输入短路电流，I输出为低电平时，最大允许负载电

ISIS

I

IS

流。一般要求N8，测试电路如图6.1.4所示。

图6.1.3测试IIS电路6.1.4测试扇出系N电路

374LS00等门电路外引线排列

74LS00为四2输入与非门，芯片含有4个2输入与非门，外引线排列和逻辑符号如图

6.1.5所示，设A、B为输入端，Y为输出端。

74LS32为四2输入或门YAB，74LS86为四2输入异或门YAB，74LS08

为四2输入与门YAB。74LS32、74LS08及74LS86的外引线排列与74LS00的规律相

同，如图6.1.5所示。

Vcc4A4B4Y3A3B3Y

141312111098

1234567

1A1B1Y2A2B2YGND

图6.1.574LS00（74LS32、74LS08、74LS86）的外引线排列图

TTL集成门电路外引脚分别对应逻辑符号图中的输入、输出端。电源和地一般为集成

块的两端，如14脚集成块，7脚为电源地（GND）、14脚为电源正端（V）。外引脚的识别

CC

方法是：从豁口或标志黑点处逆时针依次递增，1、2、3……。DIP管脚按电路需要有8、

14、16、20、24、28和40脚等。

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