半导体器件物理II-试卷以及答案.pdfVIP

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西安电子科技大学

考试时间120分钟

《半导体物理2》试题

题号一二三四五六七八九十总分

分数

考试形式:闭卷;考试日期:年月日本试卷共二大题,满分100分。

班级学号姓名任课教师

一、问答题(80分)

1.什么是N型半导体?什么是P型半导体?如何获得?

答:①依靠导带电子导电的半导体叫N型半导体,主要通过掺诸如P、Sb等施主

杂质获得;②依靠价带空穴导电的半导体叫P型半导体,主要通过掺诸如B、In等受

主杂质获得;③掺杂方式主要有扩散和离子注入两种;经杂质补偿半导体的导电类型取

决于其掺杂浓度高者。

2.简述晶体管的直流工作原理(以NPN晶体管为例)

答:根据晶体管的两个PN结的偏置情况晶体管可工作在正向放大、饱和、截止和

反向放大模式。实际运用中主要是正向放大模式,此时发射结正偏,集电结反偏,以

NPN晶体管为例说明载流子运动过程;

①射区向基区注入电子;正偏的发射结上以多子扩散为主,发射区向基区注入电子,基

区向发射区注入空穴,电子流远大于空穴流;

②基区中自由电子边扩散边复合。电子注入基区后成为非平衡少子,故存在载流子复合,

但因基区很薄且不是重掺杂,所以大部分电子能到达集电结边缘;

③集电区收集自由电子:由于集电结反偏,从而将基区扩散来的电子扫入集电区形成电

子电流,另外还存在反向饱和电流,主要由集电区空穴组成,但很小,可以忽略。

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3.简述MOS场效应管的工作特性(以N沟增强型MOS为例)

答:把MOS管的源漏和衬底接地,在栅极上加一足够高的正电压,从静电学的观

点来看,这一正的栅极电压将要排斥栅下的P型衬底中的可动的空穴电荷而吸引电子。

电子在表面聚集到一定浓度时,栅下的P型层将变成N型层,即呈现反型。N反型层

与源漏两端的N型扩散层连通,就形成以电子为载流子的导电沟道。如果漏源之间有

电位差,将有电流流过。而且外加在栅极上的正电压越高,沟道区的电子浓度也越高,

导电情况也越好。如果加在栅极上的正电压比较小,不足以引起沟道区反型,则器件仍

处在不导通状态。引起沟道区产生强表面反型的最小栅电压,称为阀值电压。

4.画出MOS场效应管的工作曲线,并用文字说明各区域(以N沟增强型MOS为例)

截止区:V小于等于零,此时源漏之间的电流近似为零。

GS

线性区:V取一定的正电压,形成导电沟道。此时I与

GSDS

V成正比,对应曲线OA范围,即线性区。

DS

过渡区:V增大到一定程度时,沟道变窄,沟道电阻增大,

DS

I随V增加趋势变缓,对应曲线BC范围。

DSDS

饱和区:V继续增大到一定值使沟道夹断,此时V继续

DSDS

增大I基本保持不变,即达到饱和。

DS

击穿区:如果V再继续增加,使漏端PN结反偏电压过大,

DS

导致PN结击穿,使MOS晶体管进入击穿区。

5.晶体管的基极宽度会影响那些参数?为什么?

答:①影响电流增益,定性分析W越小,基区输运系数越大,从而电流增益越大;

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