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实验二组合逻辑电路设计（一）
一．实验目的：
1．了解与非门的逻辑功能。
2．熟悉选用不同型号与非门的方法。
3．掌握组合逻辑电路的设计方法。
二．实验内容：
1．选用合适的与非门（74LS00、74LS10或74LS20）设计一个符合如真值表所
示逻辑功能的组合逻辑电路。（用正逻辑设计）
输入输出输入输出
ABCDFABCDF
0000010000
0001010010
0010110101
0011110111
0100111001
0101111010
0110111100
0111111110
2．用异或门74LS86和与非门74LS00设计一个全加器。实验结果用真值表表示。
三．预习要求：
1．了解与非门的逻辑功能，并能在不同应用场合选用不同型号的与非门。
2．了解异或门的逻辑功能。
3．掌握组合逻辑电路的设计方法。
4．思考题：
(1)与非门和异或门能不能作非门使用？为什么？
(2)对于与非门多余的输入端如何处理？
四．实验步骤：
1．根据与非门和异或门的逻辑功能，检测芯片的好坏。
2．化简实验内容1真值表中的函数，画出用与非门实现的逻辑电路图。
3．写出实验内容2全加器的输出函数，画出逻辑电路图。
4．在实验装置上安装电路，并进行调试以验证理论设计的正确性。
五．实验报告要求：
1．实验目的、实验内容、实验步骤、实验原理图。
2．对在实验过程中所发现的问题进行分析和讨论。
3．回答思考题。
附：
一．芯片的检查方法
检测芯片主要根据芯片的功能。与非门：有0出1，全1出0。异或门：
相同出0，相异出1。
例：检测LS00：查找手册，按手册要求接好电源，将一组门电路的两个输入
端接至逻辑开关，其相应的输出端接至发光二极管显示器。两个输入分别为0，
输出高电平显示器亮（电压值为3.6～4V）；两个输入同时为1，输出低电平显示
器不亮（电压值为0.1～0.2V）。用此方法检查其余各组门电路。同理可检测LS86。
二．电路出错的检查方法
在实验过程中有很多因素会使实验结果出错。电路出错后一定要用万用表查
找出错的原因，切不可将电路拆掉重接。
例：实验内容1根据真值表当输入ABCD=1101时输出F=0，即最后一级门电路
的所有输入均为1。若电路出错，则出现F=1。此时用万用表测量最后一级门电
路的输入，找出不为1（即电压值低于3.6V，往往会出现1～2V的电压值）的端
口，沿此端口查找前一级门电路的输入，最终找出出错原因并予以纠正。
实验三组合逻辑电路设计（二）
一.实验目的：
1．了解四选一数据选择器的逻辑功能。
2．掌握同一逻辑功能可用不同器件实现的方法。
二．实验内容：
1．检测四选一数据选择器的逻辑功能，将结果填入下表。
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