全光纤电流互感器精度影响因素及抑制方法研究.docx

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全光纤电流互感器精度影响因素及抑制方法研究

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张学彦周忠新

摘要：电流互感器器是电力系统中的测量元件，部分绕组甚至是计量元件，对于其精度的各级标准中有明确要求。这些误差的要求在全光纤电流互感器上是相同的，部分误差是系统误差无法避免，如法拉第旋光效应带来的误差，部分误差是结构误差或者是方法误差，如线性双折射，这是光纤自身就存在的误差，但由于检测的物理量也是双折射，这两种双折射产生了叠加效果，而磁致圆双折射和残余双折射没有明显的差异，在检测过程中无法区别，增加了检测误差，应用在小电流检测场景时，由于磁场的强度与电流大小呈正相关，因此法拉第效应产生的圆双折射量级较小，由电流产生的磁致圆双折射几乎被线性双折射所湮没，无法避免光强受线性双折射扰动，电流测量值引起得波动对结果干扰明显，为了提高精度，降低直至克服线性双折射是关键环节，这直接影响全光纤电流传感器的应用。

关键词：光纤互感器；精度分析；影响因素

1引言

电流互感器器是电力系统中的测量元件，部分绕组甚至是计量元件，对于其精度的各级标准中有明确要求。这些误差的要求在全光纤电流互感器上是相同的，部分误差是系统误差无法避免，如法拉第旋光效应带来的误差，部分误差是结构误差或者是方法误差，如线性双折射，这是光纤自身就存在的误差，但由于检测的物理量也是双折射，这两种双折射产生了叠加效果，而磁致圆双折射和残余双折射没有明显的差异，在检测过程中无法区别，增加了检测误差，应用在小电流检测场景时，由于磁场的强度与电流大小呈正相关，因此法拉第效应产生的圆双折射量级较小，由电流产生的磁致圆双折射几乎被线性双折射所湮没，无法避免光强受线性双折射扰动，电流测量值引起得波动对结果干扰明显，为了提高精度，降低直至克服线性双折射是关键环节，这直接影响全光纤电流传感器的应用。

在工程应用中，特别是在配电网络中，互感器常年工作在户内外、敞开环境下，气候环境恶劣，寒来暑往，昼夜交替，自然条件下温度的变化是剧烈的，线性双折射的影响程度与温度的起伏变化关系密切，降低温度产生的波动对测量精度和测量结果的重复性有深刻的意义。降低线性双折射变化对互感器测量结果的影响，提高光纤电流传感器的温度稳定性，是提高互感器测量精度的主要途径，也是制造互感器技术路径的选择依据。同时利用逆磁材料降低光纤对温度影响系统测量的敏感性，提高测量的稳定性，也是在材料选择方面的关键步骤。

2線性双折射的成因

相对于理想全光纤电流传感器模型，应用中的测试光纤受外界多种因素影响影响，这种影响与需要测量的电流磁场叠加在一起，改变类理想模型下其光纤双折射振值，甚至掩盖了电流磁场产生的效果。理论分析中提及的单模光纤，其横截面结构应该是完全的轴对称圆形，在此前提下，将任意偏振光分解为两束正交偏振光，这两束正交偏振光在单模光纤中传输时其初传播常数是相同的，不存任何关联情况，因此在理想的传播过程中，两束偏振光之间的状态不会改变，最终合成输出时偏振态应该没有变化。但限于光纤的制造工艺、光纤在布防过程中受到的不均匀力、以及扭曲、热变形、压力等多种实际条件，光纤中传波的两束正交偏振模光会出现：耦合、相位变化等问题，这种两个正交偏振光模传播常数不同的现象被称为光纤双折射。通常，光线在光纤中传播时有很多种折射的分类方法，一般较为常见的是线性双折射和圆双折射：线性双折射主要引起正交的线偏振光传播常数不同；圆双折射则引起正交的左右旋圆偏振光传播常数不同。光学材料的折射率的各向异性分布将导致光传播的线性双折射发生在这种光学材料中，线偏振光的情况也与此相似，由于两个正交电场传播速度不等，演变为光线经光纤中的传播后相位差变化，原本以线偏振光形态传导的光线，在上述影响下发生变化，部分以椭圆偏振光的形式传导。

分析传感光纤中的线性双折射产生的主要原因，可以归纳为以下几个方面：不均匀应力产生的双折射，拉制过程中冷却不均匀以及某一方向上的外力使包裹层产生形变，这些细微的因素都将不可避免的带来双折射，产生这类双折射的准用称谓为本征双折射，或残余双折射，主要原因是制造工艺，在批量生产中控制工艺的差别，造成了光纤固有的隐疾；外部条件的变化，如振动、温度变化也会导致产生双折射，特别是温度的变化也会产生线性双折射，因为温度的变化是光纤受力不均，内部产生应力，形变会进一步造成使折射率发生变化，且这种折射率的变化分布不均匀；还有一些装配环节会带来误差，传感头组装、环形结构绕制，难免会让光纤受到到了来自于垂直和弯曲两个平面上的力，两个力合成后会产生不均匀的受力的结果。线性双折射对整个测量过程都影响很大，特别是多个光纤部件级联使用，其影响因子会连乘在一起，误差会产生累计产生放大的效果，必须采取有效措施，针对性降低或者减少线性双折射的影响，保证测量精度。

3线性双折射的抑制方法研究

3.1线性