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开关电源之雷击浪涌分析之典型的雷击测试和对策以及小技巧

下面是一个典型的规格:(1.2uS/50uS)

–没有误动作:4kV/12Ω共模,2kV/2Ω差模

–可以交流重启（关机，短时间不工作）:6kV/12Ω共模,4kV/2Ω差模

–更高雷击电压时，不能出现安规问题

●雷击有两种模式：差模雷击和共模雷击

●雷击的峰值电压是规定的，在kV级别

●输入阻抗也是规定的，或者有时规定输入短路电流

–例如：6kV/12Ω=500A

●连续的雷击脉冲和重置时间又非常短造成损害比较大:

–一个非常短的重置时间如：15s或1分钟,使其很难通过测试，原因为压敏电和其他的部分没时间把温度降下来!

差模雷击

差模雷击是高电压加在L和N线之间.

电流从L线流入从N线流出

共模雷击（1）

当开关在接右位置，电压加在L线和大地线上(雷击发生器上显示“L1/PE”).

当开关在接左位置，电压加在N线和大地线上(雷击发生器上显示“L2/PE”).

上面两个实际上是在电源产品上产生共模和差模电流电流。

共模雷击（2）

当雷击发生器设定为“L1,L2/PE”,开关同时接到两线上。这是唯一真的共模雷击测试设定。如果客户简单说共模雷击指的就这个设定.

系统只有两线输入，输出有悬空(不接大地),共模雷击是没有意义的!(很容易通过测试,只要输出真的悬空)

雷击会产生什么损坏?

差模雷击产生高的差模电流能导致输入大电容的电压升高，而损坏输入大电解电容和开关管的漏极。

共模雷击会产生非常高的共模电压，共模电压能造成电弧放电。电弧放电发生会产生一个非常高的高频的电流。如果没有电弧放电发生，电流比较小，只有寄生电容Cparasitic*dv/dt.

当发生一个电弧放电，会得到一个非常高的峰值高频电流，高频电流产生噪声能耦合进入低压电路导致误动作。

雷击的损坏：

–非常高的共模电压能导致跨接在初级和次级间的Y电容损坏。

–非常高的差模电压导致输入回路产生过高的电压和过大的电流，损坏输入端的元器件（保险丝，输入整流桥，X电容，压敏电阻，开关管）。

振铃的损坏：

–高频电流能导致在漏极上产生不安全的高压。

–高频电流能导致不安全的高压振铃，可以损坏像肖特基二极管等器件。

雷击电流在电路中是怎么流的？

差模雷击电流在电路中的流向（CLC结构）

从上面电路图来看，大部分的差模电流通过C1和C2

–C1和C2的电压将迅速升高，导致漏极电压过高。

–要想漏极在输入电容电压升高时不损坏，需要加入输入的过压保护线路，在输入电压高一定值，停止开关，漏极电压就会降低，就像TOP系列都有输入过压保护线路

–降低输入大电容的值，也同时降低了成本.

RT1上的损耗是非常大的，输入电容相当短路，所有的压降在RT1上，电流非常大：V*I*t=能量----可能会失效。保险丝也是如此。D1可以看到非常高的电压----如果整流二极管损坏是因为电压过高，那加RC是非常有帮助（在PIN1和PIN2，PIN3和PIN4间接电容,不需要安规电容）C30将看到高电压.X电容具体KV级别的雷击电压。

如果在C30处并联一个压敏电阻

–可以保护整流桥和输入电容

–通过保险丝和RT1的峰值电流会增大

●如果保险丝烧断，考虑更大的保险丝(更高的I2f)，但不要使用“电路保护保险丝”

●任何额外串联阻抗将减少峰值电流，

–高阻值的负温度系数热敏电阻RT1

–输入共模电感

–输入差模电感

●如果因为差模雷击电流太大造成的失效（比如：保险丝，RT1），可以外加一个差模电感来减少峰值电流

●注意：有些电感非常容易饱和，电感从流过它的电流中存储大量的能量，然后可能因为释放能量产生高压而引发电弧放电或者烧毁电感（所以电感在布线时需要加放电针）。

差模雷击电流在电路中的流向（普通结构）

当电路中没有C1

–共模电感L1要承受更高的电压和更多的电流

–多槽的共模电感对绕组电弧放电有更多的阻抗

●注意：有些电感器会非常饱和，从电流中存储大量的能量，然后可能因为释放能量产生高压而引发电弧放电或者烧毁电感。

●MOV压敏电阻:

–压敏电阻的直径大小是其吸收能量的指标

–记住压敏电阻是一个电压箝位----如图：压敏电阻会增加在他左边的器件上的峰值电流

–例如：在X电容上并联一个压敏电阻，保险丝和RT1上的雷击电流会增大。

差模雷击电流在电路中的流向（电容等效电感）

有时在大的电解电容上的短时间尖峰电压（因为电容的等效串联电感ESL和引脚电感造成的）,损坏漏极.

解决的办法：在输入电解电容靠近开关管和变压器处并联一个高频的旁路电容，缩小回路面积会有帮助的。

共模雷击电流在电路中的流向----输