现代材料测试技术作业答案.pdf

现现代代材材料料测测试试技技术术作作业业答答案案

⼀

1、X射线从本质上说，和⽆线电波、可见光、γ射线⼀样，也⼀种电磁辐射。

2、尽管衍射花样可以千变万化，但它们的基本要素只有三个：即衍射线的峰位、线形、强度。

3、在X射线衍射仪法中，对X射线光源要有⼀个基本的要求，简单地说，对光源的基本要求稳定、强度⼤、光谱纯洁。

4、利⽤吸收限两边质量吸收系数相差⼗分悬殊的特点，可制作滤波⽚。

5、测量X射线衍射线峰位的⽅法有六种，它们分别峰巅法、切线法、半⾼宽中点法、中线峰法、重⼼法、抛物线拟合法。

6、X射线衍射定性分析中主要的检索索引的⽅法有三种，它们分别哈那⽡特索引、芬克索引、字顺索引。

7、特征X射线产⽣的根本原因原⼦内层电⼦的跃迁。

8、X射线衍射仪探测器的扫描⽅式可分连续扫描、步进扫描、跳跃步进扫描三种。

9、实验证明，X射线管阳极靶发射出的X射线谱可分为两类：连续X射线光谱和特征X射线光谱。

10、当X射线穿过物质时，由于受到散射，光电效应等的影响，强度会减弱，这种现象称为X射线的衰减。

11、⽤于X射线衍射仪的探测器主要有盖⾰-弥勒计数管、闪烁计数管、正⽐计

数管、固体计数管，其中闪烁计数管和正⽐计数管应⽤较为普遍。

12、X射线在近代科学和⼯艺上的应⽤主要有X射线透视技术、X射线光谱技

术、X射线衍射技术三个⽅⾯

13、当X射线照射到物体上时，⼀部分光⼦由于和原⼦碰撞⽽改变了前进的⽅向，

造成散射线；另⼀部分光⼦可能被原⼦吸收，产⽣光电效应；再有部分光⼦的能量可能在与原⼦碰撞过程中传递给了原⼦，成

为热振动能量。

1、电⼦显微分析利⽤聚焦电⼦束与试样物质相互作⽤产⽣的各种物理信号，

分析试样物质的微区形貌、晶体结构和化学组成。

2、电⼦显微镜可分为：透射电⼦显微镜、扫描电⼦显微镜等⼏类。

3、电镜中，⽤静电透镜作电⼦枪，发射电⼦束；⽤磁透镜做会聚透镜，起成

像和放⼤作⽤。

4、磁透镜和玻璃透镜⼀样具有很多缺陷，因此会造成像差，像差包括：球差⾊

差、像散、和畸变。

5、当⼀束聚焦电⼦束沿⼀定⽅向射⼊试样时，在原⼦库仑电场作⽤下，⼊射电

⼦⽅向改变，称为散射。原⼦对电⼦的散射可分为弹性散射和⾮弹性散射。在弹性散射过程中，电⼦只改变⽅向，⽽能量基本

⽆损失。在⾮弹性散射过程中，电⼦不但改变⽅向，能量也有不同程度的减少，转变为热、光和X射线和⼆次电⼦发射等。

6、电⼦与固体物质相互作⽤过程中产⽣的各种电⼦信号，包括⼆次电⼦、背

散射电⼦、俄歇电⼦、_透射电⼦和吸收电⼦等。

7、块状材料通过减薄的⽅法（需要先进⾏机械或化学⽅法的预减薄）制备成

对电⼦束透明的薄膜样品。减薄的⽅法有超薄切⽚、电解抛光、化学抛光和离⼦轰击等。

8、扫描电镜⽤聚焦电⼦束在试样表⾯逐点扫描成像，成像信号可以⼆次电

⼦、背散射电⼦或吸收电⼦。

9、透射电⼦显微镜中⾼分辨率像有晶格条纹像和原⼦结构像。

1光率体的种类有均质体的光率体,⼀轴晶的光率体,⼆轴晶的光率体;其形

态分别为球体,旋转椭球体,三轴椭球体。

2．光显微镜的调节与校正的内容主要有对光,准焦,确定下偏光镜的振动⽅向且将其平⾏东西⽅向⼗字丝，中⼼校正。

3．⼲涉⾊级序的测定⽅法有边缘⾊带法,补偿法（⽯英楔⼦法）。

4．晶体在单偏光镜下可以观察和测定的主要内容有形态，解理、多⾊性、吸收性、突起、颜⾊等。

5．影响光程差的因素有矿物切⽚⽅向,矿⽚厚度,矿物本⾝性质。

6．锥光镜下研究矿物晶体时，可观察和测定的内容有晶体的轴性,光性符号，切⾯位置,光轴⾓⼤⼩，晶体的光性⽅位等。

7．⼀轴晶光率体的主要切⾯有垂直光轴的切⾯,平⾏光轴的切⾯,斜交光轴的切⾯三种。

8．⼆轴晶光率体的主要切⾯有垂直于光轴切⾯,平⾏光轴⾯切⾯,垂直Bxa的切⾯，垂直Bxo的切⾯，任意斜交切⾯五种。

9．根据薄⽚中晶体颗粒边棱的规则程度，可将晶体分为⾃形晶,半⾃形晶,他形晶三类。

10．具有解理的矿物，根据其解理发育的完善程度，可分为极完全解理，完全解理，不完全解理三级。

11．根据薄⽚中晶体与树胶相对折射率的⼤⼩，将晶体的突起分为负⾼突起,负低突起,正低突起，正中突起,正⾼突起,正极

⾼突起六个等级。12．在正交偏光镜下，矿物晶体的消光类型有平⾏消光,对称消光,斜消光三种。

13．⼲涉⾊级序的测定⽅法有⽬测法,边缘⾊带法,补偿法三种。

1、差热分析法、热重分析法、差⽰扫描量热分析法和热机械分析法热分析的

四⼤⽀柱。

2、热分析法所有在⾼温过程中测量物质热性能技术的总称。

3、热重分析法包括：静态法和动态法两种类型。

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