原创力文档- 1、本文档共83页，其中可免费阅读25页，需付费100金币后方可阅读剩余内容。
- 2、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。
- 3、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
- 4、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
查看更多
摘要
随着国际关系的日益紧张，以美国为首的诸多发达国家对中国实施芯片限令，
禁止向中国售卖有航天、军事等用途的关键元器件，一定程度上阻碍了我国国防事
业的发展进程。因此，国产芯片研发刻不容缓，而芯片的板级应用验证是研发工作
过程中必要且关键一环。其中，数字芯片作为现代电子设备的核心，是实现数字
化、智能化和自动化的基础，为满足其多种类测试需求，保证测试的稳定性和可靠
性，对测试系统提出了更高的要求。
针对现有测试方法中存在的系统复杂、操作困难、造价高、缺乏灵活性等问
题，本文设计了高性能
文档评论（0）