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国产低功耗弹载存储测试系统设计.pdf

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    摘要

    弹载测试获取弹丸工作状态的关键手段。发射试验前，弹载测试系统需固封于

    药室，随弹进行2-3天保温实验，以确保系统稳定。因此，对于小体积微电源的弹载

    存储测试系统，低功耗一直是设计人员关注的核心问题之一。同时，近几年芯片信

    息安全问题促使各行业加快推进国产自主可控；然而，现有弹载测试系统多依赖国

    外芯片设计。针对上述问题，本文深入研究了国产低功耗弹载存储测试系统，详细

    研究了其设计原理、性能特点以及应用前景。具体研究内容如下：

    首先，遵循通用化原则，对弹载存储测试系统进行了总体方案设计

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