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摘要
单极子天线作为一种基本的天线结构，应用非常广泛且多样化。其具有简单的
结构、良好的性能和适用性等特点。在设计、制造、测试单极子天线的过程中，其
微波场强度分布是非常重要的天线参数之一。在传统的天线微波场测量过程中，不
仅需要微波暗室等严格的实验条件，其测量仪器也多为电路组成，对被测微波场本
身会有影响。而且传统微波近场成像技术由于空间分辨率低、对被测微波场影响大、
测试时间长、流程多等因素的限制，目前已经无法满足天线近场微波场的测试需求。
-(Nitr
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