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实验报告霍尔效应

一、实验目的

1、了解霍尔效应的基本原理。

2、掌握用霍尔效应法测量磁场的原理和方法。

3、学会使用霍尔效应实验仪器，测量霍尔电压、电流等物理量。

二、实验原理

1、霍尔效应

将一块半导体薄片置于磁场中，当在薄片的纵向通以电流时，在薄

片的横向两侧会产生一个电位差，这种现象称为霍尔效应。这个电位

差称为霍尔电压，用＄U_H$表示。

霍尔电压的产生是由于运动的载流子在磁场中受到洛伦兹力的作用

而发生偏转，在薄片的两侧积累了正负电荷，从而形成了电场。当电

场力与洛伦兹力达到平衡时，电荷的积累停止，霍尔电压达到稳定值。

2、霍尔电压的计算

设半导体薄片的厚度为＄d$，载流子的浓度为＄n$，电流为＄I$，

磁感应强度为＄B$，则霍尔电压＄U_H$可以表示为：

＼U_H＝＼frac{1}｛｛

其中，＄q$为载流子的电荷量。

3、测量磁场

如果已知半导体薄片的参数（如载流子浓度＄n$、薄片厚度＄d$）

以及通过的电流＄I$，测量出霍尔电压＄U_H$，就可以计算出磁感应

强度＄B$：

＼B＝＼frac{nqdU_H}｛I}＼

三、实验仪器

1、霍尔效应实验仪，包括霍尔元件、电磁铁、电源、电压表、电

流表等。

2、特斯拉计，用于测量磁场强度。

四、实验步骤

1、连接实验仪器

按照实验电路图连接好霍尔效应实验仪的各个部分，确保连接正确

无误。

2、调整磁场

打开电磁铁电源，逐渐增加电流，使磁场强度逐渐增大。使用特斯

拉计测量磁场强度，并记录下来。

3、测量霍尔电压

（1）保持磁场强度不变，改变通过霍尔元件的电流＄I$，分别测

量不同电流下的霍尔电压＄U_H$，记录数据。

（2）保持电流＄I$不变，改变磁场强度，测量不同磁场强度下的

霍尔电压＄U_H$，记录数据。

4、数据处理

（1）根据测量的数据，绘制霍尔电压＄U_H$与电流＄I$的关系

曲线。

（2）绘制霍尔电压＄U_H$与磁场强度＄B$的关系曲线。

（3）根据实验原理中的公式，计算出半导体薄片的载流子浓度

＄n$和薄片厚度＄d$。

五、实验数据及处理

1、实验数据记录

｜磁场强度＄B$（T）｜电流＄I$（mA）｜霍尔电压

＄U_H$（mV）｜

｜｜｜｜

｜01｜10｜25｜

｜01｜20｜50｜

｜01｜30｜75｜

｜02｜10｜50｜

｜02｜20｜100｜

｜02｜30｜150｜

2、绘制霍尔电压＄U_H$与电流＄I$的关系曲线

以电流＄I$为横坐标，霍尔电压＄U_H$为纵坐标，绘制关系曲线。

从曲线可以看出，霍尔电压＄U_H$与电流＄I$成正比。

3、绘制霍尔电压＄U_H$与磁场强度＄B$的关系曲线

以磁场强度＄B$为横坐标，霍尔电压＄U_H$为纵坐标，绘制关

系曲线。从曲线可以看出，霍尔电压＄U_H$与磁场强度＄B$成正比。

4、计算载流子浓度＄n$和薄片厚度＄d$

根据实验原理中的公式，已知霍尔电压＄U_H$、电流＄I$、磁场

强度＄B$，可以计算出载流子浓度＄n$和薄片厚度＄d$。

六、实验误差分析

1、系统误差

（1）实验仪器的精度有限，如电压表、电流表、特斯拉计等的测

量误差。

（2）霍尔元件的性能不均匀，可能导致测量结果的偏差。

2、随机误差

（1）实验操作过程中的读数误差，如电流、电压的读取不准确。

（2）磁场的不均匀性，可能使霍尔元件所处位置的磁场强度与测

量值存在差异。

七、实验注意事项

1、连接电路时要确保接触良好，避免接触电阻对实验结果的影响。

2、调节磁场强度和电流时要缓慢进行，避免过大的冲击电流对仪

器造成损坏。