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《材料分析测试技术》试卷（答案）
一、填空题：（20分，每空一分）
1.X射线管主要由阳极、阴极、和窗口构成。
2.X射线透过物质时产生的物理效应有：散射、光电效应、透射X射线、
和热。
3.德拜照相法中的底片安装方法有：正装、反装和偏装三种。
4.X射线物相分析方法分：定性分析和定量分析两种；测钢中残余奥
氏体的直接比较法就属于其中的定量分析方法。
5.透射电子显微镜的分辨率主要受衍射效应和像差两因素影响。
6.今天复型技术主要应用于萃取复型来揭取第二相微小颗粒进行分析。
7.电子探针包括波谱仪和能谱仪成分分析仪器。
8.扫描电子显微镜常用的信号是二次电子和背散射电子。
二、选择题：（8分，每题一分）
1.X射线衍射方法中最常用的方法是（b）。
a．劳厄法；b．粉末多晶法；c．周转晶体法。
2.已知X光管是铜靶，应选择的滤波片材料是（b）。
a．Co；b.Ni；c.Fe。
3.X射线物相定性分析方法中有三种索引，如果已知物质名时可以采用（c）。
a．哈氏无机数值索引；b.芬克无机数值索引；c.戴维无机字母索引。
4.能提高透射电镜成像衬度的可动光阑是（b）。
a．第二聚光镜光阑；b.物镜光阑；c.选区光阑。
5.透射电子显微镜中可以消除的像差是（b）。
a．球差；b.像散；c.色差。
6.可以帮助我们估计样品厚度的复杂衍射花样是（a）。
a．高阶劳厄斑点；b.超结构斑点；c.二次衍射斑点。
7.电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1nm厚表层成分的
信号是（b）。
a．背散射电子；b.俄歇电子；c.特征X射线。
8.中心暗场像的成像操作方法是（c）。
a．以物镜光栏套住透射斑；b．以物镜光栏套住衍射斑；c．将衍射斑移至
中心并以物镜光栏套住透射斑。
三、问答题：（24分，每题8分）
1.X射线衍射仪法中对粉末多晶样品的要求是什么？
答：X射线衍射仪法中样品是块状粉末样品，首先要求粉末粒度要大小
适中，在1um-5um之间；其次粉末不能有应力和织构；最后是样品有一
个最佳厚度（t=
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2.分析型透射电子显微镜的主要组成部分是哪些？它有哪些功能？在
材料科学中有什么应用？
答：透射电子显微镜的主要组成部分是：照明系统，成像系统和观察记
录系统。
透射电镜有两大主要功能，即观察材料内部组织形貌和进行电子衍
射以了解选区的晶体结构。分析型透镜除此以外还可以增加特征X射线
探头、二次电子探头等以增加成分分析和表面形貌观察功能。改变样品
台可以实现高温、低温和拉伸状态下进行样品分析。
透射电子显微镜在材料科学研究中的应用非常广泛。可以进行材料
组织形貌观察、研究材料的相变规律、探索晶体缺陷对材料性能的影响、
分析材料失效原因、剖析材料成分、组成及经过的加工工艺等。
3.什么是缺陷的不可见性判据？如何用不可见性判据来确定位错的布
氏矢量？
答：所谓缺陷的不可见性判据是指当晶体缺陷位移矢量所引起的附加相
位角正好是π的整数倍时，有缺陷部分和没有缺陷部分
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