《磁共振弥散张量成像在弥漫性轴索损伤中的应用研究》.docx

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2024-11-23 发布于北京
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《磁共振弥散张量成像在弥漫性轴索损伤中的应用研究》

一、引言

磁共振弥散张量成像（DTI）是一种基于磁共振成像技术的先进技术，能够用于测量大脑白质纤维束的微观结构，如纤维的走向、密度和完整性等。在神经科学领域，DTI被广泛应用于脑部疾病的诊断与评估，包括脑部创伤。弥漫性轴索损伤（D）是一种常见的脑部创伤，其特点是广泛而分散的轴索损伤，常导致严重的神经功能障碍。本文旨在探讨磁共振弥散张量成像在弥漫性轴索损伤中的应用研究。

二、磁共振弥散张量成像技术原理

DTI技术利用水分子在组织中的扩散特性来描绘神经纤维的结构。在DTI中，通过测量不同方向上的扩散速率，可以获得神经纤维的走向、密度和完整性的信息