DB34T 3368.1-2019 印制电路板中有害物质分析方法 第1部分:铅、汞、铬、镉和溴的快速筛选X射线荧光光谱法  .pdfVIP

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ICS31.180

L30DB34

安徽省地方标准

DB34/T3368.1—2019

印制电路板中有害物质分析方法

第1部分:铅、汞、铬、镉和溴的快速筛选

X射线荧光光谱法

MethodsfortheanalysisofharmfulsubstancesinprintedcircuitboardsPart1:

Rapidscreeninganddeterminationoflead,mercury,chromium,cadmiumand

brominebyX-rayfluorescencespectrometry

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2019-07-01发布2019-08-01实施

安徽省市场监督管理局发布

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DB34/T3368.1—2019

前言

DB34/T3368《印制电路板中有害物质分析方法》共6个部分:

——第1部分:铅、汞、铬、镉和溴的快速筛选X射线荧光光谱法;

——第2部分:卤素(氯和溴)的测定离子色谱法;

——第3部分:多溴联苯及多溴二苯醚的测定气相色谱-质谱法;

——第4部分:铅和镉的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法;

——第5部分:汞含量的测定电感耦合等离子体光谱法;

——第6部分:六价铬含量的测定分光光度法。

本部分为第1部分。

本部分按照GB/T1.1-2009给出的规则起草。

本部分由安徽国家铜铅锌及制品质量监督检验中心提出。

本部分由安徽省有色金属标准化技术委员会负责归口。

本部分主要起草单位:安徽国家铜铅锌及制品质量监督检验中心。

本部分参加起草单位:铜陵有色金属集团控股有限公司检测研究中心。

本部分主要起草人:臧真娟、周蕾玲、洪军、汪海、赵亮、龚昌合、黄薇薇。

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DB34/T3368.1—2019

印制电路板中有害物质分析方法

第1部分:铅、汞、铬、镉和溴的快速筛选X射线荧光光谱法

1范围

本部分规定了X射线荧光光谱法快速筛选印制电路板中有害物质铅、汞、铬、镉、溴的方法原理、

仪器设备、试剂、样品制备、分析步骤、筛选和报告。

本部分适用于印制电路板中有害物质铅、汞、铬、镉、溴的快速筛选,其中所测定的铬、溴是指样

品中的总铬、总溴。

2规范性引用文件

下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅所注日期的版本适用于本文

件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。

GB/T15000.3标准样品工作导则(3)标准样品定值的一般原则和统计方法

3方法原理

印制电路板经粉碎、压片形成试样片,利用X射线激发待测物质中的原子,使之产生特征X射线

荧光光谱,根据其特征谱线(能量或波长)进行分析。

4仪器设备

4.1X射线荧光光谱仪。

4.2剪切机。

43.压片机:工作压力不小于20Mpa。

44:5mm及以下。

.粉碎机粉碎后粒径可达0.

5试剂仅供学习

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