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材料研究⽅法复习题2011

⼀、名词解释：

1）短波限

连续X射线谱的X射线波长从⼀最⼩值向长波⽅向伸展，该波长最⼩值称为短波限。P7。

2）质量吸收系数

指X射线通过单位⾯积上单位质量物质后强度的相对衰减量，这样就摆脱了密度的影响，成为反映物质本⾝对X射线吸收性质

的物理量。P12。

3）吸收限

吸收限是指对⼀定的吸收体，X射线的波长越短，穿透能⼒越强，表现为质量吸收系数的下降，但随着波长的降低，质量吸收

系数并⾮呈连续的变化，⽽是在某些波长位置上突然升⾼，出现了吸收限。每种物质都有它本⾝确定的⼀系列吸收限。P12。

4）X射线标识谱

当加于X射线管两端的电压增⾼到与阳极靶材相应的某⼀特定值kU时，在连续谱的某些特定的波长位置上，会出现⼀系列强

度很⾼、波长范围很窄的线状光谱，它们的波长对⼀定材料的阳极靶有严格恒定的数值，此波长可作为阳极靶材的标志或特

征，故称为X射线标识谱。P9。

5）连续X射线谱线

强度随波长连续变化的X射线谱线称连续X射线谱线。P7。

6）相⼲散射

当⼊射线与原⼦内受核束缚较紧的电⼦相遇，光量⼦不⾜以使原⼦电离，但电⼦可在X射线交变电场作⽤下发⽣受迫振动，这

样的电⼦就成为⼀个电磁波的发射源，向周围辐射与⼊射X射线波长相同的辐射，因为各电⼦所散射的射线波长相同，有可能

相互⼲涉，故称相⼲散射。P14。

7）闪烁计数器

闪烁计数器利⽤X射线激发磷光体发射可见荧光，并通过光电管进⾏测量。P54。

8）标准投影图

对具有⼀定点阵结构的单晶体，选择某⼀个低指数的重要晶⾯作为投影⾯，将各晶⾯向此⾯所做的极射⾚⾯投影图称为标准投

影图。P99。

9）结构因数

在X射线衍射⼯作中可测量到的衍射强度HKLI与结构振幅2

HKLF的平⽅成正⽐，结构振幅

的平⽅2

HKLF称为结构因数。P34。

10）晶带⾯（共带⾯）晶带轴

我们说这些相交于平⾏直线的⼀组晶⾯属于同⼀晶带，称晶带⾯或共带⾯，其交线即为晶带轴。P99。

11）选择反射

镜⾯可以任意⾓度反射可见光，但X射线只有在满⾜布拉格⽅程的θ⾓上才能发⽣反射，因此，这种反射亦称选择反射。

P27。

12）倒易点阵

倒易点阵是在晶体点阵的基础上按照⼀定的对应关系建⽴起来的空间⼏何图形，是晶体点阵的另⼀种表达形式。P144。

13）球差

球差即球⾯像差，是由于电磁透镜的中⼼区域和边缘区域对电⼦的折射能⼒不符合预定的规律⽽造成的像差。P124。

14）衍射衬度

这种由于样品中不同位向的晶体的衍射条件（位向）不同⽽造成的衬度差别叫衍射衬度。P170。

15）、结构消光

当0=hklF时，即使满⾜布拉格定律，也没有衍射束产⽣，因为每个晶胞内原⼦散射波的合成振幅为零，这叫做结构消光。

P149。⼆、填空题：

1.PDF卡⽚的索引有（字母索引）和（Hanawalt索引）两种。当不知所测样品的化学元素

时采⽤（Hanawalt索引），当知样品元素时采⽤（字母索引）。

2.TEM中物镜光阑⼜称为（衬度光阑），通常被安放在物镜的（后焦⾯）上。

3.在X射线的吸收中，线吸收系数是在X射线传播的⽅向上单位（厚度物质）上的X射

线衰减程度，⽽质量吸收系数是单位（质量）物质对X射线的衰减量。

4.特征X射线和⼆次特征X射线的区别是，特征X射线是由（⼊射电⼦）激发物质产⽣

的，⽽⼆次特征X射线是（⼊射X射线）激发物质产⽣的。

5.在选择滤波⽚时，可以选择滤波⽚的波长λk刚好位于辐射源Kα和Kβ（λβλkλα）之间，

这时滤波⽚对（Kβ）射线产⽣强烈的吸收，⽽对（Kα）射线却吸收很少。

粉末法是⽤（单⾊）的X射线照射（多晶体）试样，利⽤晶粒的不同取向来改变θ⾓，6.

以满⾜布拉格⽅程。

劳埃法是⽤（连续）X射线照射（不动的单晶体）样品进⾏衍射的⽅法。

7.

结构因⼦表征了晶胞内（原⼦种类），（原⼦数⽬），（原⼦位置）对衍射强度的影响。

8.

在体⼼⽴⽅晶胞中，当晶⾯指数H+K+L为（偶）数时，该晶⾯衍射线存在；当H+K+L9.

为（奇）数时，该晶⾯衍射线不存在。

在⾯⼼⽴⽅晶体中，当晶⾯指数（全为奇数或全为偶数）时，该晶⾯衍射线存在；当晶10.

⾯指数（奇偶混杂）时，该晶⾯衍射线不存在。

衍射仪的衍射花样均来⾃于与试样表⾯（平⾏）的晶⾯的反射。

11.

X射线衍射仪中计数器的作⽤是精确地测定衍射线的（强度）。

12.

分辨本领是指成像物体上能分辨出来的两个物点间的（最⼩）距离，不管是光学显微镜13.

还是电⼦显微镜，分辨本领