微电子器件可靠性习题 .pdfVIP

.

微电子器件可靠性习题

第一、二章数学基础

1．微电子器件的可靠性是指产品在规定条件下和规定时间内；完成规定功

能的能力。

2．产品的可靠度为R(t)、失效概率为F(t)，则二者之间的关系式为R(t)+F(t)=1。

3．描述微电子器件失效率和时间之间关系的曲线通常为一“浴盆”，该曲线明显分为三个区

域，分别是早期失效期、偶然失效期和耗损失效期。

4．表决系统实际上是并联（串联、并联）系统的一种。

5．设构成系统的单元的可靠度均为R，则由两个单元构成的串联系统的可靠度为

R2；由两个单元构成的并联系统的可靠度为2R-R2。

6．产品的可靠度为R(t)、失效概率密度为f(t)，则二者之间的关系式为

’

f(t)=R(t)。

7．微电子器件的可靠度是指产品在规定条件下和规定时间内；完成规定功

能的概率。

8．产品的可靠度为R(t)、失效概率密度为f(t)，失效率λ(t)，则三者之间的关系式为

f(f)=λ(t)R(t)。

9．设构成系统的单元的可靠度均为R，则由两个单元构成的串联系统的可靠度为R2；

由两个单元构成的并联系统的可靠度为2R-R2；由三个单元构成的2/3(G)表决系统的

23

可靠度为3R-2R。

10．100块IC，在第100小时内失效数为6块，到第101小时失效11块，则该IC在100

小时的失效概率密度是6/100，失效率是5/94。（给出分数形式即可）。（2分）

11．产品的可靠度降低到0.5时，其工作时间称为中位寿命，可靠度降低到1/e时，其工

作时间称为特征寿命。

12．λ(t)是一个比较常用的特征函数，它的单位用1/h，也常用%/1000h或10-9/h，后者称

为菲特（Fit），100万个器件工作1000h后只有一个失效率，即1Fit。

13．失效率单位有三种表示方法：1/h、%/1000h、（非特Fit）10-9/h。通常可用每小时或每

千小时的百分数作为产品失效的单位。对于可靠性要求特高的微电子器件产品，常用Fit作

为基准单位，1个非特所表示的物理意义是指10亿个产品，在1小时内只允许有一个产品

失效，或者说每千小时内只允许有百万分之一的失效概率。

14．在t=0时，有N=100件产品开始工作，在t=100小时前有两个失效，而在100-105小时

内失效1个，失效概率密度f（100）=1/5*100，失效率λ(100)=1/5*98，假如到t=1000小

时前有51个失效，而在1000-1005小时内失效1个，此时f（1000）=1/5*100，λ(1000)=1/5*49。

15．一台电视机有1000个焊点，工作1000小时后检查100台电视机，发现有两点脱焊，则

5

焊点的失效率（t=0）为λ(0)=2/1000*（10-0）=2*10-8/小时=20非特

一、简答和证明（满分14分）

1）什么是失效概率密度f(t)？（2分）

2）什么是失效率λ(t)？（2分）

3）已知失效概率密度f(t)是失效概率F(t)的微商，证明f(t)和λ(t)之间的关系式为

f(t)

(t)

1F(t)。（10分）

.

.

答题要点：

1)失效概率密度是指产品在t时刻的单位时间内发生失效的概率。

2)失效率是指在时刻t尚未失效的器件，在单位时间内失效的概率。

3)方法一：

设N个产品从t=0时刻开始工作，到t时刻