摘要
机械探伤是工业发展机械制造业中必不可少的有效途径,其对于机械高效安
全运行和安全快速发展具有重要意义。作为非侵入式机械探伤的一种,无损检测是
评估和保障机械设备完整性的先进手段,其代表方法是磁粉检测。在不破坏、不影
响机械设备前提下,磁粉检测能够探测出表面缺陷。这种方法不仅操作简易,而且
结果呈现直接。FeO磁粉能在磁场中定向移动,用于检测缺陷。但在可见光下,
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其磁痕颜色暗淡,难以与工件形成对比,且无法检出微小孔隙,影响可靠性。通过
掺杂Cu2+和Ni2+可调节电子结构和光学性质,提高对比度。进一步将FeO细化至
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纳米级别能提升对微孔的检测能力。需从电子水平上,对掺杂和纳米结构诱导的能
带结构和光学性质的微观机理进行研究。
由于Cu2+价电子的排列,很容易产生Jahn-Teller(J-T)畸变,这其中的物理机
制尚未被充分研究。MFeFeO(MCu2
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