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频率特性测试仪
频率特性测试仪
摘要：
本实验以DDS芯片AD9851为信号发生器，以单片机MSP430F449
为核心控制芯片，以FPGA为辅助，加之于外围电路来实现幅频及相
频的检测。系统由6信模块组成：正弦扫频信号模块，待测阻容双T
网络模块，整形模块，幅值检测模块，相位检测模块，及显示模块。
先以单片机送给AD9851控制字产生100HZ—100KHZ的扫频信号，经
过阻容双T网络检测电路，一路信号通过真有效值AD637JP对有效值
进行采集后进入单片机进行幅值转换，另一路信号由整形电路整形后
进入FPGA进行相位检测及频率检测，最后由LCD显示输出，最终来
完成幅频及相频的简单测试。
关键字：AD9851、MSP430F449、FPGA、阻容双T网络、AD637
LM311比较器、液晶12864
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频率特性测试仪
目录
一、方案方案论证与选择3
1.扫描信号产生方案3
1.1数字直接频率合成技术(DDFS).3
1.2程控锁相环频率合成3
1.3数字频率发生器（DDS）AD9851产生3
2．相位检测方案4
2.1A/D采样查找最值法.4
2.2FPGA鉴相法4
3.幅值检测方案5
3.1峰值检波法5
3.2真有效值芯片AD637检测法.6
二、系统总体设计文案及实现方框图7
三、双T网络的原理分析及计算7
1、双T网络的原理7
2、双T网络的设计9
四、主要功能模块电路设计11
1、AD9851正弦信号发生器.
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