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（完整版）材料现代分析⽅法考试试卷

班级学号姓名考试科⽬现代材料测试技术A卷开卷⼀、填空题（每空1分，共计20分；答案写在下⾯对应的空格处，否则不得

分）

1.原⼦中电⼦受激向⾼能级跃迁或由⾼能级向低能级跃迁均称为_辐射跃迁__跃迁或_⽆辐射跃迁__跃迁。

2.多原⼦分⼦振动可分为__伸缩振动_振动与_变形振动__振动两类。

3.晶体中的电⼦散射包括_弹性、__与⾮弹性___两种。

4.电磁辐射与物质（材料）相互作⽤，产⽣辐射的_吸收_、_发射__、_散射/光电离__等，是光谱分析⽅法的主要技术基础。

5.常见的三种电⼦显微分析是_透射电⼦显微分析、扫描电⼦显微分析___和_电⼦探针__。

6.透射电⼦显微镜（TEM）由_照明__系统、_成像__系统、_记录__系统、_真空__系统和__电器系统_系统组成。

7.电⼦探针分析主要有三种⼯作⽅式，分别是_定点_分析、_线扫描_分析和__⾯扫描_分析。

⼆、名词解释（每⼩题3分，共计15分；答案写在下⾯对应的空格处，否则不得分）

1.⼆次电⼦⼆次电⼦：在单电⼦激发过程中被⼊射电⼦轰击出来的核外电⼦.

2.电磁辐射：在空间传播的交变电磁场。在空间的传播遵循波动⽅程，其波动性表现为反射、折射、⼲涉、衍射、偏振等。

3.⼲涉指数：对晶⾯空间⽅位与晶⾯间距的标识。

4.主共振线：电⼦在基态与最低激发态之间跃迁所产⽣的谱线则称为主共振线

5.特征X射线：迭加于连续谱上，具有特定波长的X射线谱，⼜称单⾊X射线谱。

三、判断题（每⼩题2分，共计20分；对的⽤“√”标识，错的⽤“×”标识）

1．当有外磁场时，只⽤量⼦数n、l与m表征的原⼦能级失去意义。(√)2．⼲涉指数表⽰的晶⾯并不⼀定是晶体中的真实原⼦

⾯，即⼲涉指数表⽰的晶⾯上不⼀定有原⼦分布。(√)

3．晶⾯间距为d101／2的晶⾯，其⼲涉指数为（202）。(×)

4．X射线衍射是光谱法。(×)

5．根据特征X射线的产⽣机理，λKβλKα。(√)

6．物质的原⼦序数越⾼，对电⼦产⽣弹性散射的⽐例就越⼤。(√)

7．透射电镜分辨率的⾼低主要取决于物镜。（√）

8．通常所谓的扫描电⼦显微镜的分辨率是指⼆次电⼦像的分辨率。（√）

9．背散射电⼦像与⼆次电⼦像⽐较，其分辨率⾼，景深⼤。（×）

10．⼆次电⼦像的衬度来源于形貌衬度。（×）

四、简答题（共计30分；答案写在下⾯对应的空格处，否则不得分）

1.简述电磁波谱的种类及其形成原因？（6分）答：按照波长的顺序，可分为：（1）长波部分，包括射频波与微波。长波辐

射光⼦能量低，与物质间隔很⼩的能级跃迁能量相适应，主要通过分⼦转动能级跃迁或电⼦⾃旋或核⾃旋形成；（2）中间部

分，包括紫外线、可见光核红外线，统称为光学光谱，此部分辐射光⼦能量与原⼦或分⼦的外层电⼦的能级跃迁相适应；

（3）短波部分，包括X射线和γ射线，此部分可称射线谱。X射线产⽣于原⼦内层电⼦能级跃迁，⽽γ射线产⽣于核反应。

2.什么叫结构因⼦？试计算体⼼晶胞的F与|F|2值。（5分）答：晶胞所含各原⼦相应⽅向上散射波的合成波称为结构因⼦。体

⼼点阵每个晶胞中有2个同类原⼦，其坐标为(0,0,0)和(?,?,?)，其原⼦散射因⼦相同

在体⼼点阵中，只有当H+K+L为偶数时才能产⽣衍射

3.⼊射X射线⽐同样能量的⼊射电⼦在固体中穿⼊深度⼤的多，⽽俄歇电⼦与X光电⼦的逸出深度相当，原因是什么？（8

分）答：由于库仑相互作⽤,⼊射电⼦在固体中的散射⽐X射线强得多,同样固体对电⼦的吸收“”⽐对X射线的吸收快得多.电⼦

吸收主要指由于电⼦能量衰减⽽引起的强度(电⼦数)衰减电⼦激发过程有差别,多数情况下激发⼆次电⼦是⼊射电⼦能量损失的

主要过程.X射线激发固体中原⼦内层电⼦使原⼦电离,原⼦在发射光电⼦的同时内层出现空位,此时原⼦(实际是离⼦)处于激发

态,过程可称为退激发或去激发过程.退激发过程有两种互相竞争的⽅式,即发射特征X射线或发射俄歇电⼦。两者能量相似，在

固体中传播时经历⾮弹性散射，其逸出深度近似等于⾮弹性散射平均⾃由程。

4.观察冷加⼯处理的⾦属材料中的位错应采⽤何种分析⼿段，并制定相应的样品处理流程。答：采⽤透射电⼦显微镜来分析。

处理流程如下：超声切割机Ф3mm初减薄：制备厚度约100-200µm的薄⽚,平⾯磨预减薄：从圆⽚的⼀侧或两侧将圆⽚中⼼区

域减薄⾄数µm,机械研磨终减薄：100-200nm,电解抛光或离⼦减薄最后得到Φ3mm有微细穿孔的薄⽚样品

5.试述差热分析法的原理，并讨论放热峰和吸热