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封装测试工艺流程介绍分析.docx

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从设备上区分有:金刚石划片和激光划片两种。由于激光划片设备昂贵,金刚石划片是目前较为流行的。

封装形式的进展

SGNEC现有封装形式

SGNEC组立进展过程

组立流程

划片工艺

从设备上区分有:金刚石划片和激光划片两种。由于激光划片设备昂贵,金刚石划片是目前较为流行的。

半切作业流程

全切作业流程

划片刀

划片外观检查

划伤:划伤是由于芯片外表接触到异物:如镊子,造成芯片内部的AI布线受到损伤或造成短路,而引起的不良。

缺损:缺损是由于芯片的边缘受到异物、或芯片之间的撞击,造成边缘缺损,有可能破坏AL布线或活性区,引起不良。

崩齿:由于大圆片为Si单晶体,在划片时就不行避开的

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