2024年光纤通信实验报告.docx

光纤通信试验汇报

課程名称

光纤通信试验

试验一

光源的P-I特性、光发射机消光比测试

一、试验目的

1、理解半导体激光器LD的P-I特性、光发射机消光比。

2、掌握光源P-I特性曲线、光发射机消光比的测试措施。

二、试验器材

主控信号源模块、2号、25号模块各一块

23号模块（光功率计）一块

FC/PC型光纤跳线、连接线若干

萬用表一种

三、试验原理

数字光发射机的指標包括：半导体光源的P-I特性曲线测试、消光比（EXT）测试和平均光功率的测试。

1、半导体光源的P-I特性

LD半导体激光器P-I曲线示意图

半导体激光器具有高功率密度和极高量子效率的特點，微小的電流变化會导致光功率输出变化，是光纤通信中最重要的一种光源，激光二极管可以看作為一种光學振荡器，要形成光的振荡，就必须要有光放大机制，也即启動介质处在粒子数反转分布，并且产生的增益足以抵消所有的损耗。半导体激光器的输出光功率与驱動電流的关系如上图所示，该特性有一种转折點，對应的驱動電流称為门限電流（或称阈值電流），用Ith表达。在门限電流如下，激光器工作于自发辐射，输出（荧光）光功率很小，一般不不小于100pW；在门限電流以上，激光器工作于受激辐射，输出激光功率随電流迅速上升，基本上成直线关系。激光器的電流与電压的关系类似于正向二极管的特性。该试验就是對该线性关系進行测量，以验证P-I的线性关系。

P-I特性是选择半导体激光器的重要根据。在选择時，应选阈值電流Ith尽量小，没有扭折點，P-I曲线的斜率合适的半导体激光器：Ith小，對应P值就小，這样的激光器工作電流小，工作稳定性高，消光比大；没有扭折點，不易产生光信号失真；斜率太小，则规定驱動信号太大，給驱動電路带来麻烦；斜率太大，则會出現光反射噪声及使自動光功率控制环路调整困难。

2、光发射机消光比

消光比定义為：。

式中P00是光发射机输入全“0”時输出的平均光功率即無输入信号時的输出光功率。P11是光发射机输入全“1”時输出的平均光功率。從激光器的注入電流（I）和输出功率（P）的关系，即P-I特性可以清晰地看出消光比的物理概念，如下图所示。

Δ

ΔP

EXT

ADP

PIN

消光比對敏捷度的影响

由图可知，當输入信号為“0”時，光源的输出光功率為P00，它将由直流偏置電流Ib来确定。無信号時光源输出的光功率對接受机来說是一种噪声，将減少光接受机的敏捷度。因此從接受机角度考虑，但愿消光比越小越好。不過，应當指出，當Ib減小時，光源的输出功率将減少，光源的谱线宽度增長，同步，還會對光源的其他特性产生不良影响，因此，必须全面考虑Ib的影响，一般取Ib=(0.7～0.9)Ith（Ith為激光器的阈值電流）。在此范围内，能比很好地处理消光比与其他指標之间的矛盾。考虑多种原因的影响，一般规定发送机的消光比不超過-1dB。在光源為LED的条件下，一般不考虑消光比，由于它不加直流偏置電流Ib，電信号直接加到LED上，無输入信号時的输出功率為零。因此，只有以LD作光源的光发射机才规定测试消光比。

四、试验环节

1、关闭系统電源，按如下阐明進行连线：

（1）用连接线将2号模块TH7（DoutD）连至25号光收发模块的TH2（数字输入），并把2号模块的拨码開关S4设置為“ON”，使输入信号為全1電平。

（2）用光纤跳线连接25号光收发模块的光发输出端和光收接入端，并将光收发模块的功能选择開关S1打到“光功率计”。

（3）用同轴電缆线将25号光收发模块P4（光探测器输出）连至23号模块P1（光探测器输入）。

2、将25号光收发模块開关J1拨為“10”，即無APC控制状态。開关S3拨為“数字”，即数字光发送。

3、将25号光收发模块的電位器W4和W2顺時针旋至底，即设置光发射机的输出光功率為最大状态；

4、開電，设置主控模块菜單，选择主菜單【光纤通信】→【光源的P-I特性测试】功能。

5、用萬用表测量R7两端的電压（测量措施：先将萬用表打到直流電压档，然後将紅表笔接TP3，黑表笔接TP2）。讀出萬用表讀数U，代入公式I=U/R7，其中R7=33Ω,讀出光功率计讀数P。

调整功率输出W4，将测得的参数填入下表：

P(uW)

u(V)

I(A)

6、将25号光收发模块的電位器W4顺時针旋至底；设置主控模块菜單，选择【光功率计】功能。

7、将2号模块的拨码開关S4