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古之立大事者，不惟有超世之才，亦必有坚忍不拔之志。——苏轼
电容和介质损耗测量
一试验目的
测量介质损耗的目的是判断电气设备的绝缘状况。测量介质损耗因数在预防性试验
中是不可缺少的项目。因为电气设备介质损耗因数太大，会使设备绝缘在交流电压作用下，
许多能量以热的形式损耗，产生的热量将升高电气设备绝缘的温度，使绝缘老化，甚至造
成绝缘热击穿。绝缘能力的下降直接反映为介质损耗因数的增大。进一步就可以分析绝缘
下降的原因，女口：绝缘受潮、绝缘油受污染、老化变质等等。所以，在出厂试验时要进
行介质损耗的试验，运行中的电气设备亦要进行此种试验。测量介质损耗的同时，也能
得到试品的电容量。电容量的明显变化，反映了多个电容中的一个或几个发生短路、断路。
二概念及原理
介质损耗是绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应，在其内
部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。
在交流电压作用下，电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角为功率因数角
（（
①），而余角S）简称介损角。
介质损耗正切值tg又称介质损耗因数，是指介质损耗角正切值，简称介损角正切。
tg
介质损耗因数（）的测量在电气设备制造、绝缘材料电气性能的鉴定、绝缘的试
验等都是不可缺少的。因为测量绝缘介质的tg值是判断绝缘情况的一个较灵敏的试验方
法。在交流电压作用下，绝缘介质不仅有电导的损耗，还有极化损耗。介质损耗因数的
定义如下：
被测试品的有功功餐
介质摘耗因數（tg6）=
被测试品的无功功率
古之立大事者，不惟有超世之才，亦必有坚忍不拔之志。——苏轼
如果取得试品的电流相量二和电压相量口，则可以得到如下相量图:
IC
含损耗的
实际试品IC
纯电阻R纯电容C
总电流可以分解为电谷电流Ic和电阻电流IR合成，因此：
介质扌韻毛13数（tg勖=尸工100%=X100%=—X100%
QUI匚I
c
这正是损失角S=（90°①）的正切值。因此现在的数字化仪器从本质上讲，是
S（
通过测量或者①得到介损因数。有的介损测试仪习惯显示功率因数PF:cos①）,
（3
而不是介质损耗因数DF:tg）。一般cos①＜tg在损耗很小时这两个数值非常
接近。
三试验方法
根据试品的具体情况确定试验接
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