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光学仪器的多波束干涉技术原理与应用考核试卷

考生姓名：答题日期：得分：判卷人：

本次考核旨在检验考生对光学仪器中多波束干涉技术原理及应用的掌握程度，涵盖基本概念、原理、方法以及在实际中的应用案例。

一、单项选择题（本题共30小题，每小题0.5分，共15分，在每小题给出的四个选项中，只有一项是符合题目要求的）

1.多波束干涉技术中，以下哪个不是产生干涉条纹的原因？

A.相干光的叠加

B.光程差的产生

C.光的衍射

D.光的散射（）

2.以下哪个是干涉仪中常用的多光束干涉方法？

A.相干成像法

B.双光束干涉法

C.多光束干涉法

D.单光束干涉法（）

3.在多波束干涉中，以下哪个不是光束分离器的作用？

A.分离不同波长的光束

B.分离不同方向的光束

C.分离不同强度光束

D.分离相干光束（）

4.以下哪个是多波束干涉技术中用于消除杂散光的方法？

A.使用窄带滤光片

B.使用偏振片

C.使用光束分离器

D.使用干涉滤光片（）

5.在多光束干涉中，以下哪个不是提高干涉条纹对比度的方法？

A.增大光束间距

B.使用相干光源

C.提高光束质量

D.增加光束数量（）

6.以下哪个是多波束干涉技术中用于测量微小形变的原理？

A.光程差的变化

B.光束路径的变化

C.光强变化

D.相位变化（）

7.以下哪个是多波束干涉技术中用于提高测量精度的方法？

A.使用高分辨率探测器

B.使用窄带光源

C.使用大口径干涉仪

D.使用激光光源（）

8.在多波束干涉中，以下哪个是干涉条纹的周期性变化？

A.光程差的变化

B.光束路径的变化

C.光强变化

D.相位变化（）

9.以下哪个是多波束干涉技术中用于测量微小位移的方法？

A.光程差的变化

B.光束路径的变化

C.光强变化

D.相位变化（）

10.在多光束干涉中，以下哪个是干涉条纹的清晰度？

A.光程差的变化

B.光束路径的变化

C.光强变化

D.相位变化（）

11.以下哪个是多波束干涉技术中用于测量表面粗糙度的方法？

A.光程差的变化

B.光束路径的变化

C.光强变化

D.相位变化（）

12.在多波束干涉中，以下哪个是干涉条纹的幅度变化？

A.光程差的变化

B.光束路径的变化

C.光强变化

D.相位变化（）

13.以下哪个是多波束干涉技术中用于测量光学元件形状的方法？

A.光程差的变化

B.光束路径的变化

C.光强变化

D.相位变化（）

14.在多光束干涉中，以下哪个是干涉条纹的空间分布？

A.光程差的变化

B.光束路径的变化

C.光强变化

D.相位变化（）

15.以下哪个是多波束干涉技术中用于测量微小角度的方法？

A.光程差的变化

B.光束路径的变化

C.光强变化

D.相位变化（）

16.在多光束干涉中，以下哪个是干涉条纹的线性变化？

A.光程差的变化

B.光束路径的变化

C.光强变化

D.相位变化（）

17.以下哪个是多波束干涉技术中用于测量光学元件的折射率的方法？

A.光程差的变化

B.光束路径的变化

C.光强变化

D.相位变化（）

18.在多光束干涉中，以下哪个是干涉条纹的频率变化？

A.光程差的变化

B.光束路径的变化

C.光强变化

D.相位变化（）

19.以下哪个是多波束干涉技术中用于测量微小尺寸的方法？

A.光程差的变化

B.光束路径的变化

C.光强变化

D.相位变化（）

20.在多光束干涉中，以下哪个是干涉条纹的相位变化？

A.光程差的变化

B.光束路径的变化

C.光强变化

D.相位变化（）

21.以下哪个是多波束干涉技术中用于测量光学元件的焦距的方法？

A.光程差的变化

B.光束路径的变化

C.光强变化

D.相位变化（）

22.在多光束干涉中，以下哪个是干涉条纹的相位分布？

A.光程差的变化

B.光束路径的变化

C.光强变化

D.相位变化（）

23.以下哪个是多波束干涉技术中用于测量光学元件的厚度的方法？

A.光程差的变化

B.光束路径的变化

C.光强变化

D.相位变化（）

24.在多光束干涉中，以下哪个是干涉条纹的周期性变化？

A.光程差的变化

B.光束路径的变化

C.光强变化

D.相位变化（）

25.以下哪个是多波束干涉技术中用于测量光学元件的表面平整度的方法？

A.光程差的变化

B.光束路径的变化

C.光强变化

D.相位变化（）

26.在多光束干涉中，以下哪个是干涉条纹的线性变