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测量系统分析R=(RA+RB+RC)/3XDIFF=Max{XA,XB,XC}-Min{XA,XB,XC}重复性--设备变差EV=R?K1再现性--测验人变差AV=(XDIFF?K2)2-(EV2/nr)过程变差PV=RP?K3RR=(EV2+AV2)总变差TV=(RR2+PV2)%EV=EV/TV%AV=AV/TV%RR=RR/TV%PV=PV/TVP/T=RR/Tolerancen=样品个数r=每个人对每个样品的试验次数rK1234.563.05K2233.652.70测试人数nK3789101.821.741.671.62K1=5.15/d*2*AV计算中,如根号下出现负值,AV取值0EV=EquipmentVariation(Repeatability)AV=AppraiserVariation(Reproducibility)RR=RepeatabilityReproducibilityPV=PartVariationTV=TotalVariationofRRandPVK1-Trial,K2-Operator,K3-PartConstantsGRR研究中的名词0102敏感度(Sensitivity)敏感度是指能产生一个可检测到(有用的)输出信号的最小输入。它是测量系统对被测特性变化的回应。敏感度由量具设计(分辨力)、固有质量(OEM)、使用中保养,以及仪器操作条件和标准来确定。它通常被表示为一测量单位。影响敏感度的因素包括:一个仪器的衰减能力操作者的技能测量装置的重复性对于电子或气动量具,提供无漂移操作的能力仪器使用所处的条件,例如:大气条件、尘土、湿度准确度(Accuracy)—测量的平均值是否与真值吻合?真值(TrueValue):理论上正确的值国际度量衡标准偏倚(Bias)测量值的均值与真值的距离测量系统持续地偏离目标系统错误准确度(Accuracy)BIAS—测量结果的平均值与参考值的差异.参考值(reference-value)是一个预先认定的参考标准.该标准可用更高一级测量系统测量的平均值来确定(例如:高一级计量室)单击此处添加标题观测平均值单击此处添加标题参考值单击此处添加标题偏倚BIAS单击此处添加标题
X1=0.75mm X6=0.8mmX2=0.75mm X7=0.75mmX3=0.8mm X8=0.75mmX4=0.8mm X9=0.75mmX5=0.65 mm X10=0.7mm同一操作者对同一工件测量10次如果参考标准是0.80mm.过程变差为0.70mm=0.75Bias=0.75-0.8=-0.05%Bias=100[0.05/0.70]=7.1%表明7.1%的过程变差是偏倚BIAS偏倚BIAS实例:准确度的问题可以通过校准来探测.偏倚也可以与过程的容差相比较判断准确度的简单标准为.小于过程变差或容差的1%,可认为是精确的.小于过程变差或容差的1%则需要研究和调整测量系统,或者临时用补偿值来修正以后的测量值偏倚的研究还可以通过作图的方式来进行,即作出直方图,然后根据经验判断是否可以接受.偏倚的研究还可以通过计算置信区间来判断是否可以接受测量平均值–参考值x(100)容差宽度作图分析PART1偏倚研究的分析如果偏倚在统计上不等于0,检查是否存在以下原因:基准件或参考值有误—检查确定标准件的程序仪器磨损—维修仪器所测量的特性有误仪器没有经过适当的校准—对校准程序进行评审评价者使用仪器的方法不正确—对测量指导书进行评审偏倚的调整如果偏倚不等于零,应采用硬体修正法和软体修正法对量具进行重新校准以达到零偏倚;如果偏倚不能调整为零,通过变更程序(每个读值根据偏倚进行修正)还可继续使用该测量系统。由于存在评价误差这一高度风险,因此这种方法只能在取得顾客同意后方可使用。线性在量具正常工作量程内的偏倚变化量多个独立的偏倚误差在量具工作量程内的关系是测量系统的系统误差构成线性的探测可以在校准时进行线性的好坏可以通过作图来显示线性的研究也可以通过数据分析来进行,即用最小二乘法来计算最佳的拟合直线,再用假设检验来验证其线性是否可以接受.线性误差的原因造成线性误差的可能原因如下:仪器需要校准,缩短校准周期仪器、设备或夹具的磨损维护保养不好—空气、动力、液体、过滤器、腐蚀、尘土、清洁基准的磨损或损坏,基准的误差—最
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