仪器及原理介绍.ppt

TitleofPresentationDateAgilentRestrictedPage*氧化物干扰比例比较表－CeO/Ce成为表征TitleofPresentationDateAgilentRestrictedPage*ICP-MS进一步消除干扰的方法：ORS碰撞/反应池采样锥01截取锥02双锥形提取透镜03一体化Ω偏转透镜04H2,He,Xe等碰撞／反应气体入口05八极杆碰撞／反应池(ORS)系统06真空门阀在不采样时关闭07消除已电离的样品基体干扰:碰撞/反应池08TitleofPresentationDateAgilentRestrictedPage*碰撞／反应池的工作方式单击此处添加正文，文字是您思想的提炼，为了演示发布的良好效果，请言简意赅地阐述您的观点。（动能歧视KED，7500-ORS以此为主）04KineticEnergyDiscrimination（反应模式,）03Reaction（干扰离子碰撞解离CID）02CollisionalInducedDissociation碰撞／反应池系统有三种工作方式：01TitleofPresentationDateAgilentRestrictedPage*HHeeInterferingionentersOctopoleandcollideswithH2AnelectronistransferredtotheinterferenceArAr+Theinterferenceisneutralised……andhydrogengainsthechargeHeeH+基本原理：中性粒子无法进入四极杆反应模式：电荷转移（Reaction）以H2为例安捷伦电感耦合等离子体质谱仪

（7700ICPMS）原理介绍安捷伦科技

生命科学与化学分析仪器部TitleofPresentationDateAgilentRestrictedPage*ICP-MS简介ICP-MS全称电感耦合等离子体质谱（InductivelyCoupledPlasmaMassSpectrometry），可分析几乎地球上所有元素（Li-U）ICP-MS技术是80年代发展起来的新的分析测试技术。它以将ICP的高温（8000K）电离特性与四极杆质谱计的灵敏快速扫描的优点相结合而形成一种新型的最强有力的元素分析、同位素分析和形态分析技术。该技术提供了极低的检出限、极宽的动态线性范围、谱线简单、干扰少、分析精密度高、分析速度快以及可提供同位素信息等分析特性。自1984年第一台商品仪器问世以来，这项技术已从最初在地质科学研究的应用迅速发展到广泛应用于环境保护、半导体、生物、医学、冶金、石油、核材料分析等领域。被称为当代分析技术最激动人心的发展。TitleofPresentationDateAgilentRestrictedPage*Agilent4500-#1sellingICP-MSworldwide1995-1998inclusive!!Source-MyersAssocMarketStudy2/99等离子体色谱软件Agilent4500SeriesAgilent7500SeriesShieldTorchInterface安捷伦ICPMS的发展历史1987年:第一代产品，第一台计算机控制ICPMS仪器，型号PMS-100。1988年：第二代产品，型号PMS-200,高基体分析接口。 1990年：第三代产品，型号PMS-2000。技术发明：Omega离轴偏转透镜 “被证明优于采用中心光子阻挡片的透镜－《电感耦合等离子体质谱手册》 1992年：发明专利屏敝炬系统（ShieldTorch） 应用于半导体行业ppt级K,Ca,Fe等元素的测定 1994年：第四代产品，型号HP4500。 第一台台式ICP-MS 1998年：第五代产品，HP4500+；发明Plasma-Chrom软件， 使ICPMS与色谱技术联用实现一体化，使形态分析成为标准技术 1999年：HP4500按专业应用分为100型，200型，300型。2000年：第六代产品，Agilent7500系列,按专业应用区分：7500a：基本配置；7500i：快速、大量样品分析；7500s：半导体行业专用；