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《高存储密度硬盘磁头-磁盘界面热效应与检测技术研究》
高存储密度硬盘磁头-磁盘界面热效应与检测技术研究一、引言
随着信息技术的飞速发展，高存储密度硬盘已经成为现代计算机系统不可或缺的存储设备。然而，随着存储密度的不断提升，硬盘内部的热效应问题日益突出，这对硬盘的稳定性和寿命产生了重要影响。因此，对高存储密度硬盘磁头/磁盘界面热效应与检测技术的研究显得尤为重要。本文旨在探讨高存储密度硬盘磁头/磁盘界面的热效应问题及其检测技术的研究进展。
二、高存储密度硬盘磁头/磁盘界面热效应分析
1.热效应产生原因
高存储密度硬盘的磁头和磁盘界面在读写过程中会产生大量的热量。这主要是由于电流通过线圈产生磁场时
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