原子荧光光谱法-董亚妮.ppt

气体发生-原子荧光光谱法测定化探样品中砷、锑、铋、汞、锗、硒目录一、原理二、仪器结构三、样品分析四、注意事项五、其它一、原理气体发生技术与原子荧光光谱法相结合是一种痕量分析技术主要分析：As、Sb、Bi、Hg、Ge、Se、Te、Sn、Pb、Zn、Cd冷蒸气发生技术氢化物发生技术氢化物沸点在某几种试剂(硫脲,Co2+等)的存在下，在酸性介质中，用硼氢化钾(钠)与某几种待测定元素(Cd和Zn等)反应，也能高效地生成气态物种，这些气态物种在氩氢火焰石英管原子化器也能高效原子化，从而实现高灵敏度的无色散原子荧光测定。目前还未确定该类气态物种的组成。12其它气体发生技术反应速度快。大多数反应在几秒至几十秒内完成。具有广泛的酸度应用范围。不但在强酸介质中,即使在pH＝5.5的弱酸介质中，仍可使氢化物发生。待测定元素能与绝大多数基体成份分离，减少了基体成份的干扰。气体发生优点：汞蒸气发生技术所形成的汞蒸气，是以基态原子的形式存在，被导入原子化器不需再进一步原子化。01汞的原子荧光光谱法测量中，以无火焰冷蒸气方式灵敏度为最高。原子化器的预加热温度升高，测定灵敏度反而降低，原因是温度升高时，对汞原子的热激发增强，从而使汞的基态原子量减小。02灵敏度的高低还与导入载气的种类有关，比如氩气比氮气高。03原子化机理在加热石英管中，氢化物的原子化根据下式与游离H基碰撞引起的：MHx＋H→MHx-1＋H2...MH＋H→M＋H2氢化物原子化机理12H基是由火焰反应区内游离基所产生H＋O2→OH＋OO＋H2→OH＋HOH＋H2→H2O＋H以上结果就很好地解释氢化物的原子化时，H2存在是氢化物原子化的必要条件。采用低温自动点燃装置后，在任何预加热温度下都能形成氩氢火焰。只要氩氢火焰形成后，原子化过程不受温度控制。If＝?I0KLN式中：If——荧光强度，I0-光源强度、?-荧光量子效率、K-峰值吸收系数、L-吸收光程、N-单位体积的基态原子数。在一定的实验条件下，待测元素含量（或浓度）较低时有下列关系式：If＝aC即：If与样品中待测元素的含量（或浓度）C呈正比原子荧光定量分析基本关系式二、仪器结构进样及氢化物产生过程As、Sb、Bi、Hg分析方法采用清液直接测定Bi、Hg。称取0.2500g样品于25ml比色管中,用少量去离子水润湿,加入新配制的1+1王水5ml,摇匀置于沸水浴中加热1小时,期间摇动一次。取下冷却至室温,加入25g/LK2Cr2O7溶液0.5ml,用10%HCl溶液稀释至刻度,摇匀,放置澄清。分取样品清液10ml于25ml比色管中，加5%硫脲-抗坏血酸溶液10ml,摇匀,放置30分钟后，测定As、Sb。1234三、分析方法Hg---还原剂Au、Ag、As、Sb、Bi、Se、Te、Pt、Pd元素严重干扰汞的测定，且干扰允许量极小，而采用SnCl2作为还原剂比KBH4作为还原剂干扰允许量要大得多。Ge分析方法称取样品于50mL聚四氟乙烯烧杯中,加几滴去离子水润湿后,加5mLHNO3、5mLHF、5滴1+1H2SO4,于电热板上加热蒸至硫酸冒烟取下,加10mL20%H3PO4温热溶解盐类，取下后用20%H3PO4转移至25mL比色管中，稀至刻度,摇匀,澄清，上机直接测定。Ge---介质在HCl,HNO3,王水,H2SO4和H3PO4介质中，测定锗，发现锗在H3PO4介质中，灵敏度最高。但在H3PO4浓度低于2.5％时虽然相对荧光强度值高，信号不恒定，影响测定精度,而在H3PO4浓度为10-40％之间时,灵敏度较高，且不受浓度值的影响。所以选择20％H3PO4介质。Se分析方法称取样品于50mL聚四氟乙烯烧杯中,加几滴去离子水润湿后,加10mLHNO3、5mLHF、1mLHClO4,于电热板上加热(不超过200℃）蒸至HClO4冒烟取下,加5mL去离子水冲洗杯壁后，加入7.5mLHCl，置于电热板上加热约20分钟，取下后加入25mg/mLFe3+溶液1mL，用去离子水转移至25mL比色管中，稀至刻度,摇匀,澄清。上机测定。在HCl、HNO3、王水和H2SO4介质中，测定硒，发现在HCl介质中，硒灵敏度最高，且精密度较好。改变HCl的浓度，在1%-40%之间，硒的荧光信号值为一恒值。由于Se(VI)在HCl介质中不能生成氢化物，只有Se(IV)能生成氢化物，而在样品分解的过程中定量地将Se(VI)还原成Se(IV)最为有效的方法是在30%的HCl介质中将样