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二硒化钛单晶透射电子显微镜样品制备及微结构研究
目录
内容简述．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．2
1.1研究背景．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．2
1.2研究意义．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．3
1.3国内外研究现状．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．4
二硒化钛单晶的基本性质．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．5
2.1物理性质．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．6
2.2化学性质．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．8
2.3结构性质．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．10
样品制备方法．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．10
3.1原料准备．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．11
3.2晶体生长技术．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．12
3.3晶体切割与抛光．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．13
3.4透射电子显微镜样品制备．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．14
透射电子显微镜样品制备工艺．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．15
4.1样品厚度控制．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．16
4.2样品表面处理．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．17
4.3透射电子显微镜样品制备流程．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．18
微结构研究方法．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．20
5.1透射电子显微镜成像技术．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．21
5.2高分辨成像技术．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．22
5.3能量色散X射线谱分析．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．23
二硒化钛单晶微结构分析．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．24
6.1晶体结构分析．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．25
6.2位错密度分析．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．26
6.3晶界分析．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．27
6.4微观缺陷分析．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．28
结果与讨论．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．29
7.1样品制备结果．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．30
7.2微结构特征分析．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．31
7.3结果讨论．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．32
1.内容简述
本论文主要探讨了二硒化钛（TiSe2）单晶在透射电子显微镜（TEM）中的应用及其微观结构的研究。首先，详细介绍了TiSe2晶体的合成方法和相关性质，包括其形成机制、物理化学特性以及与其它半导体材料的关系。接着，对TiSe2单晶的TEM样品制备技术进行了深入分析，讨论了各种制备方法的优点和局限性，并提出了最有效的制备方案。
随后，文章系统地分析了TiSe2单晶在不同条件下的微观结构变化，包括晶体形态、位错分布、缺陷密度等。通过对比不同实验条件下的SEM图像和TEM图像，研究者揭示了TiSe2晶体内部微观结构的演变规律，并进一步验证了所提出制备方法的有效性和可靠性。
本文总结了TiSe2单晶在透射电子显微镜中的应用前景，并对未来可能的研究方向提出了建议，旨在推动该领域的科学研究和技术发展。
1.1研究背景
随着
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