X线检查技术讲解.pptx

X线检查技术;目录：

适用范围

平片检查注意事项

基础解剖知识

下肢X线检查位置（16个）

摄影目的、成像野大小、摄影距离、体位设计、中心线、屏气方式、标准影像显示。;①骨折与关节脱位；

②骨与关节先天性发育畸形；

③骨与关节感染；

④骨关节肿瘤和肿瘤样病变；

⑤慢性骨关节疾病;

⑥营养与代谢障碍性疾病等。;①四肢长骨、关节一般应摄取正、侧位片；;⑤需在一张胶片上同时摄取两个位置时，肢体摆位方向应该一致，以便对比观片；;⑦身体较厚部位可使用滤线器摄影；;①下肢骨的结构：

下肢带骨：髋骨。

下肢游离骨：股骨、胫骨、腓骨、髌骨、附骨、跖骨、趾骨。附骨7块：跟骨、距骨、骰骨、足舟骨、外侧楔骨、中间楔骨、内侧楔骨。指骨：14块，分别为2~5指近、中、远节足指骨，第1趾只有近、远节足趾骨。

②下肢骨连接：髋关节、闭孔、耻骨联合、骶髂关节、膝关节、踝关节、胫腓关节、附骨间关节、跖趾关节。

③体表定位标志：髂嵴、髂前上棘、耻骨联合、股骨大转子、髌骨、股骨内上髁、股骨外上髁、胫骨隆突、腓骨小头、内踝、外踝、第三跖骨基底部、跟骨结节、腘窝、坐骨结节。;1.足正位

摄影目的：观察踝关节以前各骨正位形态、软组织及关节。适用于骨折、脱位和足内异物位置的确定、畸形、痛风等。

成像野大小：8×10或10×12英寸，沿足的长轴竖放。(-)

摄影距离：90～100㎝。

体位设计：被检者坐于摄影床上，对侧下肢伸直，被检侧下肢膝关节屈曲，稍内旋，足底紧贴探测器，足的长轴与探测器长轴平行，探测器前缘包足趾，后缘包足跟，第三跖骨基底部置于探测器中心。

中心线：经第三跖骨基底部垂直射入探测器中心。

屏气方式：无。

标准影像显示：照片中足呈正位像，第3跖骨基底部位于照片正中，跗骨到趾骨远端密度适当，骨纹理清晰可见，舟距关节与骰、跟骨间隙清晰可见，周围软组织层次分明。;2.足内斜位

摄影目的：观察足各骨斜位形态、软组织及关节，主要用于检查骰骨和相临关节及第四、五跖骨基底部。

成像野大小：8×10或10×12英寸，沿足的长轴竖放。(-)

摄影距离：90～100㎝。

体位设??：被检者坐于摄影床上，对侧下肢伸直，被检侧膝关节屈曲，足底踏于探测器上，膝关节内旋，使足底内缘紧贴探测器，外缘抬高，足底面与探测器呈30~45°，足背与探测器平行。足的长轴与探测器长轴平行，探测器前缘包足趾，后缘包足跟，第三跖骨基底部置于探测器中心。

中心线：经第三跖骨基底部垂直射入探测器中心。

屏气方式：无。

标准影像显示：照片中除骰骨呈正位像外，足部其余各骨呈斜位像，第1、2跖骨近端重叠，第3跖骨基底部位于照片正中，骰骨与周围各骨影像无重叠，且关节间隙显示清晰。其余各关节间隙可显示，跗骨到趾骨远端密度适当，骨纹理清晰可见，周围软组织层次分明。;3.足侧位

摄影目的：观察足各骨侧位形态、软组织及关节。主要用于检查足畸形和足内异物。

成像野大小：8×10或10×12英寸，沿足的长轴竖放。(-)

摄影距离：90～100㎝。

体位设计：被检者坐于摄影床上，对侧下肢伸直，被检侧膝关节屈曲，足底踏于探测器上，膝关节外旋，使足底外缘紧贴探测器，膝部用棉垫垫高，足底面与探测器垂直，足的长轴与探测器长轴平行，探测器前缘包足趾，后缘包足跟，将足中部置于探测器中心。

中心线：经第一跖骨基底部垂直射入探测器中心。

屏气方式：无。

标准影像显示：照片中足呈侧位像，趾骨、跖骨、跗骨大部分重叠，跟、距骨呈侧位像，各骨骨纹理清晰可见，周围软组织层次分明。;4.跟骨侧位

摄影目的：观察跟骨侧位形态和软组织。主要用于检查跟骨骨刺、外伤和其它病变。

成像野大小：5×7英寸，沿足的长轴竖放。(-)

摄影距离：90～100㎝。

体位设计：被检者坐于摄影床上，对侧下肢伸直，被检侧膝关节屈曲，足底踏于探测器上，膝关节外旋，使足部外踝紧贴探测器，膝部用棉垫垫高，足底面与探测器垂直，足的长轴与探测器长轴平行，探测器后缘包跟骨结节，将外踝下2cm置于探测器中心。

中心线：线经内踝下2cm垂直射入探测器中心。

屏气方式：无。

标准影像显示：照片中跟骨呈侧位像，位于照片正中，跟骰关节、跟距关节关节间隙清晰显示，各骨骨纹理清晰可见，周围软组织层次分明。;5.跟骨轴位

摄影目的：观察跟骨轴位形态和软组织。主要用于检查跟骨骨折和其它病变。

成像野大小：5×7英寸，沿足的长轴竖放。(-)

摄影距离：90～100㎝。

体位设计：被检者坐于摄影床上，对侧下肢弯曲或伸直，被检侧下肢伸直，足尖向上，稍内旋10~15度，踝关节极度背屈(也可用布带牵拉足前部)，足跟置于探???器远1/3处，小腿的长轴与探测器长轴重叠。

中心线：向头端倾斜35~45°，从足底经内、外踝连线的中点射入探测器中心。

屏气方式：无