头影测量常用硬组织测量项目名程口腔正畸学讲解.pptx

头影测量常用硬组织测量项目主讲老师：罗丹课程名程：口腔正畸学

头影测量常用硬组织测量项目X线头影测量常用于临床对错牙合畸形机制进行分析测量上、下颌各自的形态、大小和相互间的位置关系及牙齿位置或倾斜度明确牙齿、牙弓、颌骨、颅面间的关系不调得出相应诊断

头影测量常用硬组织测量项目前提：通过X线对正常牙合人的颅面结构进行分析得出正常牙合的各项测量参考标准正常值的确定作为诊断分析的基础

头影测量常用硬组织测量项目头影测量分析目的:确定牙和颌位的理想位置，制定可行的矫治方案正常牙颌颅面关系个体牙颌颅面结构分析出错牙合畸形的机制

颅面牙齿、牙弓颌骨相互不调产生牙颌畸形互相补偿产生正常颅面形态头影测量常用硬组织测量项目每一个项目有特定意义说明相应结构的特征或生长变化趋势！必须综合的评价各项测量指标，才能明确畸形机制，作出正确诊断!

上下颌骨的常用测量项目通常所用的基准平面为前颅底平面（S-N）和眼耳平面（FH）

SNA：反映上颌相对颅骨的前后位置头影测量常用硬组织测量项目测量内容

头影测量常用硬组织测量项目SNB：反映上颌相对颅骨的前后位置测量内容

头影测量常用硬组织测量项目ANB：反映上颌相对颅骨的前后位置测量内容

头影测量常用硬组织测量项目NA－PA(颌凸角)：反映上颌相对整个侧面的关系测量内容此角越大则上颌？相对突度越大

头影测量常用硬组织测量项目NP－FH（面角）：反映下颌的突缩程度。基准平面此角越大则下颌？相对突度越大

头影测量常用硬组织测量项目Y轴角：反映颏部的突缩，也代表面部生长发育方向测量内容此角越大则颏部？生长发育方向?颏部后缩垂直生长型

头影测量常用硬组织测量项目MP－FH下颌平面角：反映1.下颌体陡度、2.下颌角大小3.面高度：短面型/长面型测量内容

头影测量常用硬组织测量项目ANS-Ptm（上颌长）测量内容

头影测量常用硬组织测量项目S-Ptm（上颌位置）测量内容

头影测量常用硬组织测量项目Co-Po（下颌长）测量内容

头影测量常用硬组织测量项目S-Co（下颌位置）测量内容

上下前牙常用测量项目

头影测量常用硬组织测量项目UI－SNangle测量内容

头影测量常用硬组织测量项目U1－NA角：上切牙对于前颅底的相对倾斜度测量内容

头影测量常用硬组织测量项目U1-NA距测量内容

头影测量常用硬组织测量项目LI－MPangle测量内容此角越大则下前牙？唇倾度大

头影测量常用硬组织测量项目L1－NB角测量内容

头影测量常用硬组织测量项目L1－NB距测量内容

头影测量常用硬组织测量项目U1－L1角（上下中切牙角）：反映上下前部牙弓的突度。测量内容

面部高度测量项目

头影测量常用硬组织测量项目S-Go后面高测量内容

头影测量常用硬组织测量项目N-Me全面高测量内容

头影测量常用硬组织测量项目N-ANS上面高测量内容

头影测量常用硬组织测量项目ANS-Me下面高测量内容

后前面高比：N-MeS-Go×100%上面高与全面高之比：N-ANS/N-Me×100%。下面高与全面高之比：ANS-Me/N-Me×100%。头影测量常用硬组织测量项目

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