基于51单片机来采集老化试验数据设计.docx

摘要

当生产出来硅压阻式压力传感器后，需要进行老化试验，老化试验的时间通常需要进行2-3个月的连续试验，需要在特定的气压和温度条件下进行。

本文介绍了基于51单片机来采集老化试验数据设计思路和实现方法，包括主电路、调理电路、显示电路和软件设计。介绍并分析了基于以太网的数据采集与控制系统的软硬件设计原理和实现方法。电路中采用电桥测量信号，单片机采用51单片机,以太网控制器采用RTL8019AS，并用RJ-45接口实现与上位机之间的信息传输。

关键词数据采集51单片机RTL8019AS

ABSTRACT

?When?the?silicon?piezoresistive?pressure?sen