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6．7纯金属电阻率的统计模型

许多纯金属的电阻率义有这样的实验规律：在高温时，电阻率

与温度T成正比，在低温时，与T5成正比．

电阻率与温度的依赖关系完全取决于l／τF与温度的依赖关

系．纯金属中、杂质可忽略不计，电阻率的根源主要是来自晶

格振动对电子的散射作用．电子被声子所散射的模型是：费密面附

近的电子被平均声子所散射．按照这一简化模型，可化为

限于目前的理论水平，还不能把倒逆过程对电阻率的贡献定

量地估计山来．本文仍按传统的作法，只讨论电子的正常散射过

程．下图是正常散射过程示意图，由图可求得

图电子正常散射

于是又化成

可得出纯金属电阻率的统计理论：纯金属电阻率与声子浓度及

声子平均动量的平方成正比．

由德拜近似可得到纯金属电阻率的解析表达式

高温时，得到

低温时，求得

两式表明，统计理论和实验相一致，即在高温时纯金属电阻率

与温度T成正比，低温时与T5成正比