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压电元件导纳圆的测量.docVIP

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压电元件导纳圆的测量

【实验目的】

测量压电元件的导纳,即测量阻抗,可提供该元件与所在电路之间的阻抗匹配数据;

通过测量压电元件或压电换能器的导纳圆可以得到其发射效率;

学习利用示波器测量交流阻抗的方法

【实验原理】

一、压电效应和压电元件

对某些电介质晶体施加机械应力时,晶体因内部正负电荷中心发生相对位移而产生极化,导致晶体两端面上出现符号相反的束缚电荷,其电荷密度与应力成正比。这种没有电场作用,由机械应力的作用而使电介质晶体产生极化并形成晶体表面电荷的现象称为压电效应。当机械应力由压应力变成拉应力时,电荷符号也改变。

与以上情况相反,将具有压电效应的电介质晶体置于电场中,电场的作用引起电介质内部正负电荷中心产生相对位移,而这一位移又导致介质晶体发生形变,晶体的这种由外加电场产生形变的现象称为逆压电效应。晶体形变的大小与外加电场强度成正比,当电场反向时,形变也改变符号。

凡具有压电效应的晶体成为压电晶体。现代技术中,常用压电陶瓷制成压电元件,它具有很强的压电性能。

二、压电元件的等效电路

下面我们用交流电路的复数符号法来进行研究。

电路的总阻抗Z=U/I,电路的总导纳

(1)

压电元件的等效电路(2)

压电元件的等效电路

式中称为静态电纳,为U的角频率。

(3)

为动态电导,为动态电纳。由式(3)可得

(4)

(5)

将式(2)、(4)、(5)代入式(1)得

(6)

现在分析一下动态导纳和总导纳随频率变化的情况。由式(4)和(5)二式化简得

(7)

将上式配方可得到方程

(8)

如果取横坐标表示电导,纵坐标表示电纳,当U的频率改变时,式(8)代表圆心在,半径为的一个圆,如图2所示。即的相矢终端为一个圆,如图中的ABDE。由式(8)可知,当=0时,方程的解只有或,而压电元件在共振频率振动时总要有损耗或辐射能量,即,所以只有存在。此时式(4)要求

导纳圆图即。因此图上点的频率即是,称为串联共振频率或机械共振频率。

导纳圆图

当压电元件品质因素(参看式(12))较高时,相矢终端旋转一周时,圆上各点的频率变化相对共振频率并不大,故可近似认为保持一常数:。于是将的ABDE圆沿纵轴上移,便得到该电压元件总导纳Y的相矢终端随频率变化的轨迹圆(图上以O为圆心的轨迹圆),即所谓的导纳圆。

如果能通过实验测量导纳圆图,即可求得等效电路上各元件的数值。H点的频率即为机械共振频率。

(9)

D为导纳圆直径,过圆心O作平行于电纳轴的直线交圆于、,设其频率为、。由这两点的坐标值、及、可得

(10)

(11)

,为图上AC长度对应的值。

还可求得机械品质因素

(12)

三、测量电路及测量仪器

测量线路如图,E为函数信号发生器,P为被测压电元件,R为无感电阻(一般用金属膜或碳膜电阻),取值尽量小一些。用示波器测得U,U1,及U与U1之间的相位差φ,即可求得压电元件的总阻抗或总导纳。

总导纳

总导纳Y的模

测量线路总电导

测量线路

总电纳(13)

在压电元件的某一共振频率附近改变信号频率,测得若干组g、b,即可得到测量的导纳圆。

由于测量时,电路中加入了采样小电阻R,于是图压电元件的等效电路参量可替换为L1、C1、(R+R1)和,因此公式(9)、式(10)和C0将修正为

(14)

(15)

,而C1和Om形式不变。

四、补充内容:用示波器研究互感耦合电路的特性

如图所示的互感电路中,原边线圈(自感为L1,线圈电阻为R1)和副边线圈(自感为L2)之间通过互感M联系在一起组成耦合电路,副边回路的电阻为R2,它是线圈导线电阻和外接电阻之和。原、副边回路的微分方程如下:

设原边电流为,I1m为i1的峰值,i1可由测R上的电压得出。从微分方程组求u1的稳

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