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台阶仪XP-1操作规程.pdfVIP

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台阶仪(XP-1)操作规程

一﹑XP-1型台阶仪工作原理

图1.工作原理示意图

高度测量原理:

当探针Stylus在样品表面扫描时,随着样品表面的起伏变化,使探针绕着弹性轴承Pivot转动,从而使反射镜Mirror

的角度变化,最终导致经Mirror反射后打在光电探测器PhotoDetector上的光斑的位置发生变化。光斑位置的变化会

使PhotoDetector上的电压值发生变化,而电压的变化经AD转换后就能重现样品表面的起伏变化。

力的控制原理:

F:探针对样品的压力;G:弹性轴承Pivot左侧的净自重;Fc:磁耦合线圈ForceCoil对轴承右侧的力,其正比于一

个可在电脑中设定的参数ForceValue(这里用a表示)。

原理:当a增大时,Fc增大;而G是不变得,所以F随着a的增大而减小。

二﹑操作步骤

1.仪器的启动和初始化

首先打开稳压器,然后启动电脑并将台阶仪的电源打开。等10秒后双击电脑桌面上的台阶仪图,启动台阶

仪操控软件时会弹出一个是否要初始化的对话框,点击“是”,将系统初始化。

图2.XP-1型台阶仪软件主界面

1

2.样品的定位

初始化完成后,点击“Z+”键,使探针抬起,确保探针到台面的高度远大于样品的高度时,将样品放到样品台上,

然后将它贴着样品台推到样品台中央。(注意:一定要保证探针高于样品。然后移动样品台,使样品待测区域大

致地在探针正下方。)

点击“Engage”键,使探针自动地缓慢下降逼近样品。当探针逼近到样品表面时,即在视频窗口中看到探针(右)

针尖及其影子(左)的针尖接触上时,探针会自动停止下降逼近。这时在视频窗口中还可以观察到样品表面的

形状特征,如图2。注意:探针在样品表面上时不能移动样品或样品台。

点击“Z+”键,使探针抬起一点,但保证探针的影子还在视频窗口中。这样才能看清楚样品表面的形状特征。

移动样品台,使探针精确地定位在需要测量的台阶的起始位置。

点击“Engage”键逼近样品,查看定位是否合适。

反复抬起探针,再逼近样品,直到探针定位在所测台阶的起始位置。

图3.左侧的红色旋钮用于前后微调,中间的红色旋钮用于左右微调

3.设置扫描参数

点击软件主界面的“Setup”键,选择“Scan”标签页,这时将看到各种扫描数,如图4。

图4.扫描参数

Speed:扫描速度。可设值分别是0.01mm/s,0.03mm/s,0.05mm/s,0.07mm/s,0.1mm/s,0.12mm/s,0.15mm/s,

0.17mm/s,0.2mm/s。一般使用的速度为0.07mm/s或0.1mm/s。

2

Length:扫描长度,即探针沿图4中的扫描方向上扫描的长度。最大值30mm。最小值的条件是扫描时间(Length/Speed)

大于3秒。一般使用的值是0.4mm~1mm。

Range:扫描量程,即能扫描的台阶的最大高度。

StylusForce:扫描过程中探针对样品的作用力。软的样品,如光刻胶,应该用最小的力扫描,这样才能保证扫描过

程中对样品没有划伤。硬的样品,如硅片,可以用大的力,这样压的更稳,受外界环境影响更小。

FilterLevel:控制DataPoints。一般使DataPoints的值为1000左右。

ProfileType:扫描的线型。都用第三种线型。

4.点击“Scan”开始扫描

如是发现左下方的扫描线(红线)有较大的偏移,则“stop”,并按“Z+”抬起探针,调节机器里的黑色调节盘,哪边低

向哪边转,如图5。

图5

5.分析数据

图6数据分析界面

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