- 1、本文档共18页,可阅读全部内容。
- 2、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。
- 3、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载。
- 4、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
- 5、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
- 6、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
- 7、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
- 8、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
开短路测试原理及若干问题的探讨
赵鹏飞2011年10月
目录
1开短路测试的原理2
1.1数字电路单个引脚的抽象模型2
1.2电源及输入引脚开短路测试3
1.2.1正常情况3
1.2.2开路情况4
1.2.3短路情况5
1.3GND及输出引脚开短路测试5
1.3.1正常情况5
1.3.2开路情况6
1.3.3短路情况6
1.4本节小结7
2多引脚内联条件下的开短路测试7
2.1多引脚内联条件下开短路测试的传统方法7
2.1.1测试原理7
2.1.2系统漏洞9
2.2多引脚内联条件下开短路测试方法的进一步探讨10
2.2.1延长线断路情况下的开短路测试10
2.2.2公共线断路情况下的开短路测试11
2.2.3分支线断路情况下的开短路测试11
2.3多引脚内联条件下开短路测试方案完善12
2.3.1开路状态的矩阵分析12
2.3.2开路状态下的I-U曲线15
2.3.3关于激励电流取值范围的探讨17
2.4本节小结18
3测试板继电器烧死问题解决新方案18
3.1测试板继电器烧死导致的后果18
3.2导致继电器烧死的主要原因18
3.3用晶体管替换继电器的理论依据18
3.4实现晶体管替换继电器的若干条件18
3.5本节小结18
1
开短路测试原理及若干问题的探讨
1开短路测试的原理
1.1数字电路单个引脚的抽象模型
不论是简单的逻辑门电路,还是结构复杂的运算控制单元甚至单片机,
其内部除了极少数的特殊器件之外,有90%以上的结构全是P/N结。
而对于任何一个集成电路的任何一个功能引脚来说,其功能无非就是
能够输入人们所期望的电信号或者输出人们所期望的电信号。不论是输入
还是输出,电路内部必会形成一个电流通路。
基于以上两个原因,我们就有理由提出一个能够应用于绝大多数集成
电路的引脚内部结构抽象模型如图-1。
D1R1D5R5
37
1N1204C704k¦¸1N1204C704k¦¸
AB
图-1
图-1中的图A为电源及输入引脚的抽象模型,图B为输出及GND的抽
象模型,就是将电路的一个引脚抽象为一个P/N结与一个电阻的串联的综
合体。
接着,我们搭建如图-2所示电路:
2
U1
文档评论(0)