光学电压互感器偏光干涉测量模式 (一)常见偏光干涉测量模式局限性分析.pdfVIP

第38卷第2期电力系统自动化VoL38No．2

2014年1月25日AutomationofElectricPowerSystemsJan．25，2o14

DOI：10．750O／AEPS201301067

光学电压互感器偏光干涉测量模式

(一)常见偏光干涉测量模式局限性分析

黄荔生，马善军。，许灿华，徐启峰

(1．福州大学电气工程与自动化学院，福建省福州市350108；2．国电南方设备物资广州有限公司，广东省广州市510623)

摘要：现有的光学电压互感器(OVT)大多基于电光晶体的Pockels效应，即电光晶体在外加电场

的作用下其折射率发生变化，使得沿某一方向射入晶体的线偏振光产生电光相位延迟，延迟量与外

加电场成正比。由于无法实现对晶体电光相位延迟的直接测量，通常采用偏光干涉测量模式，将相

位延迟转变为光强调制，通过对光强的检测实现电压测量。这种测量模式反映了光功率的大小，但

仅能近似线性地测量有限的电光相位延迟，其稳定性与可靠性受到温漂、晶体附加相位延迟、半波

电压等问题的限制，无法满足电力系统的实用要求。文中分析了偏光干涉测量模式的局限性，并对

双光路补偿法进行了讨论。

关键词：光学电压互感器；温漂；BGO晶体；半波电压

0引言上述问题的有效途径是实现对电光相位延迟的直

接、线性测量，寻找与光功率无关的测量模式。对相

近年来，随着电力系统电压等级和传输容量的

位延迟进行线性测量，可克服电压测量范围受晶体

不断提高，传统的电磁式电压互感器因自身传感机

半波电压限制的问题，并增大可测量相位延迟范围，

理落后，已暴露出如绝缘难度大、线性测量范围小、

减小晶体附加相位延迟的影响；测量模式与光功率

易产生铁磁谐振、无数字接口等问题，无法适应电力

无关，则可最大限度地克服光源的波动、传输损耗、

系统发展的要求。光学电压互感器(opticalvoltage

光电转换损耗、光学器件光功率损耗等温漂问题，提

transducer，OVT)具有绝缘性能好、动态测量范围

高测量稳定性。

大、测量频带宽、无铁磁谐振、数字输出等优点，适合

电力系统数字化、智能化的发展需求。1OVT的测量原理

OVT从测量原理上大致可分为基于Pockels

根据Pockels电光效应，在外加电场的作用下

效应、Kerr效应和基于逆压电效应、电致伸缩效应，

晶体由各向同性变成双轴晶体，线偏振光进入晶体

当前研究的OVT大多基于Pockels效应。根据

后沿感应轴方向分解为两个偏振方向相互正交的线

Pockels效应，某些晶体在外加电场的作用下折射率

偏振光。由于两个偏振方向的折射率不同，偏振光

发生变化，使得沿某一方向射入晶体的线偏振