平面亚微米导电率精确测量及在MEMS器件无损检测中的应用探究.docx

平面亚微米导电率精确测量及在MEMS器件无损检测中的应用探究.docx

  1. 1、本文档内容版权归属内容提供方,所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议,可选择认领,认领后既往收益都归您。。
  2. 2、本文档由用户上传,本站不保证质量和数量令人满意,可能有诸多瑕疵,付费之前,请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形,可联系本站下载客服投诉处理。
  3. 3、文档侵权举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
查看更多

平面亚微米导电率精确测量及在MEMS器件无损检测中的应用探究

一、引言

1.1研究背景与意义

在现代科技飞速发展的时代,MEMS(Micro-Electro-MechanicalSystems,微机电系统)器件作为一种集微型传感器、微型执行器及信号处理器于一体的微型器件或微型系统,已经成为众多领域创新发展的关键支撑。从智能手机的加速度传感器实现屏幕自动旋转、计步功能,到汽车安全系统中的MEMS压力传感器和加速度传感器用于安全气囊和防抱死制动系统的精准触发,再到医疗领域中MEMS生物传感器实现快速、准确的疾病诊断,如血糖监测仪中的MEMS传感器能够实时测量血糖水平,为糖尿病患者

您可能关注的文档

文档评论(0)

131****9843 + 关注
实名认证
内容提供者

该用户很懒,什么也没介绍

1亿VIP精品文档

相关文档