高频开关应用下GaN功率器件开关运行状态可靠性试验方法.pdfVIP

ICS31.080

CCSH80/84

团体标准

T/CASAS057—202X（征求意见稿）

高频开关应用下GaN功率器件开关运行状

态可靠性试验方法

Testmethodforcontinuous-switchingoperationreliabilityofGaN

powerdevicesunderhighfrequencyswitchedconditions

（征求意见稿）

在提交反馈意见时，请将您知道的相关专利连同支持性文件一并附上。

XXXX-XX-XX发布XXXX-XX-XX实施

第三代半导体产业技术创新战略联盟发布

T/CASAS057—202X（征求意见稿）

目次

前言II

引言III

1范围1

2规范性引用文件1

3术语和定义1

4原理2

5测试条件5

6测试装置5

7测试程序6

测试方法6

测试流程7

8数据记录和处理7

9试验报告8

附录A（资料性）GaN功率器件开关运行状态可靠性测试记录表9

附录B（资料性）开关运行状态可靠性试验测试过程应力条件建议10

附录C（资料性）开关运行状态可靠性试验建议的样本数量及失效判据11

附录D（资料性）开关运行状态可靠性试验示例12

D.1测试电路示例12

D.2测试过程监控及数据分析12

参考文献14

I

T/CASAS057—202X（征求意见稿）

前言

本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定

起草。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。

本文件由第三代半导体产业技术创新战略联盟（CASA）制定发布，版权归CASA所有，未经CASA许可

不得随意复制；其他机构采用本文件的技术内容制定标准需经CASA允许；任何单位或个人引用本文件的

内容需指明本文件的标准号。

本文件主要起草单位：

本文件主要起草人：

II

T/CASAS057—202X（征求意见稿）

引言

氮化镓（GaN）功率开关器件具有高耐压、高开关频率、低损耗及高功率密度等显著优势，目前已

被广泛地应用于快充适配器等领域。然而，GaN基功率器件在开关应用中也面临着一些挑战：1）GaN器

件可以工作在极高的开关频率，然而在快速开