T CASAS 057 高频开关应用下GaN功率器件开关运行状态可靠性试验方法.pdf

ICS31.080

CCSH80/84

团体标准

T/CASAS057—202X（征求意见稿）

高频开关应用下GaN功率器件开关运行状

态可靠性试验方法

Testmethodforcontinuous-switchingoperationreliabilityofGaN

powerdevicesunderhighfrequencyswitchedconditions

（征求意见稿）

在提交反馈意见时，请将您知道的相关专利连同支持性文件一并附上。

XXXX-XX-XX发布XXXX-XX-XX实施

第三代半导体产业技术创新战略联盟发布

T/CASAS057—202X（征求意见稿）

目次

前言II

引言III

1范围1

2规范性引用文件1

3术语和定义1

4原理2

5测试条件5

6测试装置5

7测试程序6

测试方法6

测试流程7

8数据记录和处理7

9试验报告8

附录A（资料性）GaN功率器件开关运行状态可靠性测试记录表9

附录B（资料性）开关运行状态可靠性试验测试过程应力条件建议10

附录C（资料性）开关运行状态可靠性试验建议的样本数量及失效判据11

附录D（资料性）开关运行状态可靠性试验示例12

D.1测试电路示例12

D.2测试过程监控及数据分析12

参考文献14

I

T/CASAS057—202X（征求意见稿）

高频开关应用下GaN功率器件开关运行状态可靠性试验方法

1范围

本文件规定了用于评估高频开关应用下（频率≥100kHz）GaN功率器件开关运行状态可靠性试验方

法，用以表征及评估GaN功率器件在连续开关应力作用下器件的退化及失效，以确保其以快充适配器代

表的典型应用领域下稳定运行，实现系统整体性能的提升。

本文件适用于进行GaN功率器件的生产研发、特性表征、量产测试、可靠性评估及应用评估等工作

场景。可应用于以下器件：

1）GaN增强型（E-Mode）和耗尽型（D-Mode）分立功率电子器件；

2）GaN功率集成器件和共源共栅GaN功率器件；

3）以上的晶圆级及封装级产品。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，

仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本

文件。

T/CASAS034—2024用于硬开关电路的氮化镓高电子迁移率晶体管动态导通电阻测试方法

3术语和定义

下列术语和定义适用于本文件。

动态高温工作寿命dynamichightemperature