T/CIE 134-2022磁随机存储芯片数据保持时间测试方法.pdf

ICS31.200

CCSL56

团体标准

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TCIE1342022

磁随机存储芯片数据保持时间测试方法

Testmethodsfordataretentiontimeofmaneticrandom-accessmemorchis

gyp

2022-08-10发布2022-08-10实施

中国电子学会发布

中国标准出版社出版

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TCIE1342022

目次

前言…………………………Ⅰ

1范围………………………1

2规范性引用文件…………………………1

3术语和定义………………1

4测试设备及条件…………………………2

4.1测试设备和装置……………………2

4.2测试条件……………2

5测试方法…………………2

5.1通则…………………2

5.2磁随机存储芯片的数据保持时间测试……………3

5.2.1测试原理………………………3

5.2.2测试方法………………………4

5.2.3测试记录………………………5

参考文献………………………6

/—

TCIE1342022

前言

/—《:》

本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定

GBT1.120201

起草。

。。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任

本文件由中国电子学会提出并归口。

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本文件起草单位北京航空