1+X集成电路理论模拟试题+答案.docx

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1+X集成电路理论模拟试题+答案

一、单选题(共39题,每题1分,共39分)

1.用重力式选机设备进行芯片检测的第二个环节是()。

A、分选

B、测试

C、上料

D、外观检查

正确答案:B

答案解析:重力式分选机设备芯片检测工艺的操作步骤一般为:上料→测试→分选→编带(SOP)→外观检查→真空包装。

2.使用转塔式分选设备进行芯片测试时,其测试环节的流程正确的是()。

A、芯片分选→测前光检→测后光检→测试

B、测前光检→测后光检→测试→芯片分选

C、测前光检→测试→测后光检→芯片分选

D、测前光检→测后光检→芯片分选→测试

正确答案:C

3.下列说法错误的是()。

A、在cadence软件界面上,单击Tools菜单,选择LibraryManager命令,出现“库文件管理器”

B、用户可以在库文件里新建单元,但不能在新建的单元下新建视图

C、选择Tool选项中的Composer-Schematic选项,表示在单元下建立电路图视图

D、在电路编辑窗口中,利用图标栏可以快速建立、编辑电路图

正确答案:B

4.封装工艺的电镀工序中,完成前期的清洗后,下一步操作是()。

A、后期清洗

B、电镀

C、装料

D、高温退火

正确答案:B

5.在如下方波输出控制程序中,占空比计算公式为()。VoidPWM_Init(){PWM0-TBPRD=400;PWM1-TBCTL=0;PWM1-TBCTL_b.HSPCLKDIV=1;PWM1-TBCTL_b.CLKDIV=4;PWM1-TBCTL_b.PRDLD=1;PWM0-TBCTL_b.CTRMODE=2;PWM0-AQCTLA_b.CAU=1;PWM0-AQCTLA_b.CAD=2;PWM0-CMPA=200;PWM_START;}

A、PWM0-AQCTLA_b.CAU/PWM0-AQCTLA_b.CAD=50%

B、PWM0-TBCTL_b.CTRMODE/PWM1-TBCTL_b.CLKDIV=50%

C、PWM1-TBCTL_b.HSPCLKDIV/PWM1-TBCTL_b.CLKDIV=25%

D、PWM0-CMPA/PWM0-TBPRD=50%

正确答案:D

6.封装工艺中,装片机上料区上料时,是将()的引线框架传送到进料槽。

A、顶层

B、任意位置

C、底层

D、中间位置

正确答案:C

7.在使用万用表之前先应()。

A、选择合适的量程

B、选择合适的挡位

C、机械调零

D、表笔短接

正确答案:C

8.在实现LED流水灯程序中主要用到了()语句。

A、顺序

B、条件

C、扫描

D、循环

正确答案:D

9.工作台整理干净后,根据物流提供的()到待检查品货架上领取待外检的芯片。

A、芯片测试随件单

B、晶圆测试随件单

C、中转箱号

D、芯片名称

正确答案:C

答案解析:工作台整理干净后,根据物流提供的中转箱号到待检查品货架上领取待外检的芯片。

10.芯片完成编带并进行清料后,会将完成编带的芯片放在()上。

A、已检查品货架

B、待检查品货架

C、待外检货架

D、合格品货架

正确答案:B

答案解析:芯片完成编带并进行清料后,将将编带盘、随件单放入对应的中转箱中,并将中转箱放在待检查品货架上等待外观检查。

11.料盘外观检查前期,将料盘从中转箱中取出后,将测试合格的料盘放在()。

A、已检品区

B、待检品区

C、不合格品区

D、工作台任意位置

正确答案:B

答案解析:料盘外观检查前期,将料盘从中转箱中取出后,根据随件单核对合格品、不合格品的数量一致后,将合格品和随件单放在工作台的右边,其中不合格品放在工作台下方的不合格品箱中,合格品放在待检区,并且不能超过黄线,这是为了防止检查时进行混合。

12.若遇到需要编带的芯片,在测试完成后的操作是()。

A、测试

B、上料

C、编带

D、外观检查

正确答案:C

答案解析:转塔式分选机的操作步骤一般为:上料→测试→编带→外观检查→真空包装。

13.使用平移式分选设备进行芯片检测时,完成上料后需要进行的环节是()。

A、测试

B、分选

C、真空包装

D、外观检查

正确答案:A

14.单晶硅生长完成后,需要进行质量检验,其中热探针法可以测量单晶硅的()参数。

A、电阻率

B、导电类型

C、少数载流子寿命

D、直径

正确答案:B

15.下列描述错误的是()。

A、重力式分选机可分为并行测试和串行测试

B、并行测试一般是进行单项测试(可根据测试卡的数量进行1site/2sites/4sites测试),适用于普通DIP/SOP封装的芯片

C、串行测试一般是进行多项测试,适用于DIP24/DIP27等模块电路

D、并行测试时模块电路依次进行不同电特性参数的测试

正确答案:D

16.通常情况下,一个编

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