耐高温聚醚酰亚胺介电储能薄膜的电热老化研究.pdf

哈尔滨理工大学工学硕士学位论文

耐高温聚醚酰亚胺介电储能薄膜的电热老化研究

摘要

金属化薄膜电容器因其高功率密度在新能源汽车、航空航天和高压输电等

领域具有广泛应用，储能特性成为衡量薄膜电容器性能优劣的重要指标，但大

多数的已有研究报道主要集中在如何提高电介质的短时储能密度，而忽略薄膜

电介质在高温高场条件下长时老化特性的研究。本文在提高薄膜电介质储能特

性的同时，重点探索高温高电场下介电储能薄膜的老化规律和老化机制。

本文选取高击穿场强和耐高温的聚醚酰亚胺（Polyetherimide，PEI）作为研

究对象，利用溶液流延法制备PEI薄膜，并在150℃和150MV/m条件下分别

进行120h、250h和500h的电热联合老化。经测试发现老化后样品的表面结构

缺陷增加，耐热性能下降，相对介电常数和损耗因数增加。但由于空间电荷的

积聚效应，样品的电学性能随老化时间呈现先上升后降低的规律。当老化120h

-82

时，PEI薄膜的综合性能最佳，泄漏电流密度降至1.24×10A/cm，击穿场强升

33

至563.8MV/m，放电能量密度由3.66J/cm增至3.87J/cm，充放电效率为

80.5%。

为了调控电介质内部电荷的输运和积聚行为，进一步提高PEI薄膜的高温

储能性能，本文通过掺杂高电子亲和力的分子半导体（ITIC）构筑了PEI/ITIC

复合电介质，并研究老化时间、温度和电场强度对PEI/ITIC复合电介质微观表

征和电学性能的影响。研究结果表明，PEI/ITIC复合电介质具有稳定的化学结

构，老化后样品的表面结构缺陷得到抑制，随老化条件的增加，复合介质的耐

热、介电和储能特性逐渐劣化。150℃和150MV/m条件下老化500h后，0.25

3

vol.%PEI/ITIC复合电介质的充放电效率为78.8%，放电能量密度为3.06J/cm，

3

高于相同老化条件下PEI薄膜的放电能量密度（2.44J/cm）。通过建立的薄膜寿

命评估模型，发现充放电效率可以作为耐高温介电储能薄膜的寿命评估指标。

ITIC在一定程度上能缓解电老化和热老化的影响，但ITIC作为电荷陷阱捕获电

荷引起复合电介质中局部电场畸变，降低了使用寿命。本研究为开发高性能长

寿命的复合电介质储能材料提供了参考。

关键词电热老化；聚醚酰亚胺；电学性能；储能特性；寿命预测

-I-

哈尔滨理工大学工学硕士学位论文

StudyonElectrothermalAgingofHighTemperature

ResistantPolyetherimideDielectricEnergyStorage

Films

Abstract

Metallizedthinfilmcapacitorsarewidelyusedinfieldssuchasnewenergy

vehicles,aerospace,andhighvoltagetransmissionduetotheirhighpowerdensity.

Energystoragecharacteristics