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2025-07-18 发布于北京
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基于改进遗传算法的自反馈测试向量生成方法研究

一、引言

随着集成电路技术的快速发展，测试向量生成已成为保证硬件设计正确性的关键技术之一。遗传算法作为一种自然启发式的搜索算法，具有较好的全局搜索能力和稳健的鲁棒性，被广泛应用于测试向量生成。然而，传统的遗传算法在处理自反馈测试向量生成时仍存在一些不足，如收敛速度慢、局部搜索能力弱等问题。因此，本文提出了一种基于改进遗传算法的自反馈测试向量生成方法，以提高测试向量生成的效率和准确性。

二、相关研究概述

遗传算法通过模拟自然选择和遗传机制，对解空间进行搜索和优化。在测试向量生成中，遗传算法以电路故障模型为优化目标，生成能检测电路中各种故障的测试向量。