原子吸收的干扰及抑制5.电离干扰4.背景干扰3.光谱干扰2.ppt

原子吸收的干扰及抑制5.电离干扰4.背景干扰3.光谱干扰2.化学干扰1.物理干扰非光谱干扰物理干扰、化学干扰、电离干扰光谱干扰谱线干扰、背景干扰原子吸收的干扰及抑制一、物理干扰(基体效应)产生：试样在转移、蒸发和原子化过程中物理因素变化引起的吸光度下降的干扰效应。特点：非选择性，对试样中各种元素的影响基本相同。消除：配制与待测试样具有相似组成的标准溶液。1若样品溶液浓度过高，还可以采用稀释法。3原子吸收的干扰及抑制采用标准加入法。2调整撞击小球的位置产生更多的细雾，合适的抽提量。4二、化学干扰产生：待测元素与共存组分发生了化学反应，生成了更稳定的化合物，使火焰中基态原子数目减少所产生的干扰。特点：原子吸收分析的主要干扰来源，具有选择性。消除：与干扰组分形成更稳定的或更难挥发的化合物，使待测元素释放出来。加入释放剂1原子吸收的干扰及抑制常用的释放剂：LaCl3、Sr(NO3)2。例如：加入释放剂LaCl3LaPO4的热稳定性高于Ca2P2O7，相当于从Ca2P2O7中释放出Ca。2CaCl2+2H3PO4=Ca2P2O7+4HCl+H2OLaCl3+H3PO4=LaPO4+3HClPO43-干扰Ca的测定原子吸收的干扰及抑制加入保护剂2能与被测元素或干扰元素形成稳定的络合物，避免测定元素与干扰元素生成难挥发的化合物。常用的保护剂：EDTA、8-羟基喹啉、氰化物。例：PO43-干扰Ca2+的测定—加入EDTA—EDTA-Ca络合物(易于原子化)Al干扰Mg的测定(MgO·Al2O3)—加入8-羟基喹啉—Al(C9H6ON)3络合物(热稳定性强)原子吸收的干扰及抑制加入缓冲剂3在试样与标准溶液中均加入超过缓冲量（即干扰不再变化的最低限量）的干扰元素。例：用N2O—C2H2火焰测钛时，在试样和标准溶液中加入300mgL-1以上的铝盐，使铝对钛的干扰趋于稳定。此外，还有提高火焰温度、加入基体改进剂、采用化学分离法、标准加入法等方法抑制化学干扰。原子吸收的干扰及抑制三、电离干扰产生：在高温下易电离元素在火焰中电离，使基态原子数减少，吸光度下降。消除：加入消电离剂(比被测元素电离电位低的元素)。例：测定Ca时，加入大量KCl。测定钾时，加入铯盐。原子吸收的干扰及抑制四、光谱干扰——光谱线干扰来源：待测元素的共振线与干扰物质谱线分离不完全，这类干扰主要来自光源和原子化装置，1.吸收线重叠：元素分析线附近有单色器不能分离的非待测元素的邻近谱线。谱线重叠，使测定结果偏高。可以通过调小狭缝的方法来抑制这种干扰。2.非吸收线干扰：试样中含有能部分吸收待测元素共振线的元素，使结果偏高。换用纯度较高的单元素灯减小干扰。消除：减小狭缝宽度、选用高纯度的单元素灯等方法。原子吸收的干扰及抑制背景干扰主要是指原子化过程中所产生的光谱干扰，主要有分子吸收干扰和散射干扰，干扰严重时，不能进行测定。1.分子吸收与光散射分子吸收：原子化过程中，存在或生成的分子对特征辐射产生的吸收。分子光谱是带状光谱，势必在一定波长范围内产生干扰。（碱金属卤化物在紫外光区有很强的分子吸收，硫酸和磷酸在紫外区有很强的吸收，盐酸、硝酸、高氯酸吸收较小。)光散射：试液在原子化过程中，存在或生成的微粒使光产生的散射现象，不能被检测器检测，导致吸光度增大。产生正偏差，石墨炉原子化法比火焰法产生的干扰严重四、光谱干扰——背景干扰原子吸收的干扰及抑制2.背景干扰校正方法1）氘灯连续光谱背景校正旋转斩光器交替使氘灯提供的连续光谱和空心阴极灯提供的共振线通过火焰连续光谱通过火焰时：测定的为背景吸收(此时的共振线吸收相对于总吸收可忽略)；共振线通过火焰时：吸光度是基态原子和背景吸收的总吸光度两次测定差值是待测元素的真实吸光度。有连续光源(氘灯)校正背景法、仪器调零吸收法、邻近线校正背景法、塞曼(Zeeman)效应校正背景法等。2）塞曼(Zeeman)效应背景校正法Zeeman效应：在磁场作用下谱线发生的分裂的现象；校正原理：原子化器加磁场后，随旋转偏振器的转动，当平行磁场的偏振光通过火焰时，产生总吸收；当垂直磁场的偏振光通过火焰时，只产生背景吸收；见下页图示：方式：光源调制法和共振线调制法（应用较多），后者又分为恒定磁场调制方式和可变磁场调制方式。优点：校正能力强（可校正背