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X光同调绕射显微术之简介与发展IntroductiontoX-RayCoherentDiffractionImaging

同调光绕射显微术为近年来台湾光子源重点发展的影像技术之一。此技术的优美之处在于实验装置简单，毋须透镜即能成像，避免了像差所衍生的复杂修正问题，因此受到科学界的重视，并广泛应用于生物、软物质、材料检测等方面。结合断层扫描的技术更能进行三维高分辨率非破坏性的检测工作。本文将介绍同调光绕射显微术的发展缘起与进程，各式不同的实验设计，以及此技术所面对的挑战与瓶颈。

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