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vlsi电子科技大学考试真题及答案

一、单项选择题（每题2分，共10题）

1.VLSI是指（）

A.大规模集成电路B.超大规模集成电路C.甚大规模集成电路D.极大规模集成电路

2.以下哪种工艺技术常用于VLSI制造（）

A.光刻B.氧化C.扩散D.以上都是

3.版图设计规则中的最小线宽是指（）

A.金属线的最小宽度B.多晶硅线的最小宽度C.满足制造要求的最小线条宽度D.有源区的最小宽度

4.标准单元库中的单元通常具有（）

A.相同的高度B.相同的宽度C.相同的面积D.相同的功能

5.以下哪种存储类型属于VLSI中的高速缓存（）

A.SRAMB.DRAMC.FlashD.ROM

6.逻辑综合的主要任务是（）

A.将RTL描述转换为门级网表B.对版图进行布局布线C.验证设计的功能正确性D.测试芯片性能

7.电源网格设计的目的是（）

A.提供稳定的电源供应B.减少信号干扰C.降低功耗D.提高芯片速度

8.以下哪个不是VLSI设计中的时序分析指标（）

A.建立时间B.保持时间C.传播延迟D.功耗延迟积

9.芯片测试中，功能测试主要检查（）

A.芯片的电气性能B.芯片是否实现了设计的功能C.芯片的功耗D.芯片的可靠性

10.VLSI设计流程中，布局之后的步骤是（）

A.逻辑综合B.布线C.版图验证D.仿真

答案

1.C2.D3.C4.A5.A6.A7.A8.D9.B10.B

二、多项选择题（每题2分，共10题）

1.VLSI设计中常用的设计方法有（）

A.自顶向下B.自底向上C.混合设计D.随机设计

2.以下属于VLSI制造工艺中的光刻技术的关键要素有（）

A.光刻胶B.掩膜版C.光刻机D.刻蚀气体

3.版图设计中的物理验证包含（）

A.设计规则检查（DRC）B.版图与原理图一致性检查（LVS）C.电学规则检查（ERC）D.布局合理性检查

4.标准单元的特点包括（）

A.可重复性B.易于设计C.提高设计效率D.降低功耗

5.VLSI中的低功耗设计技术有（）

A.电源门控B.多阈值电压C.动态电压频率调整D.增加晶体管数量

6.逻辑综合工具可以优化的方面有（）

A.面积B.速度C.功耗D.可靠性

7.时序分析的目的是确保（）

A.信号在规定时间内到达正确位置B.芯片满足时钟要求C.避免竞争冒险D.降低芯片成本

8.芯片封装的作用有（）

A.保护芯片B.提供电气连接C.散热D.提高芯片性能

9.以下哪些属于VLSI设计中的验证手段（）

A.功能仿真B.形式验证C.物理验证D.功耗验证

10.设计VLSI时，需要考虑的因素有（）

A.性能B.功耗C.面积D.可测试性

答案

1.ABC2.ABC3.ABC4.ABC5.ABC6.ABC7.ABC8.ABC9.ABCD10.ABCD

三、判断题（每题2分，共10题）

1.VLSI设计中，版图设计是最后一个环节。（）

2.光刻技术的分辨率越高，可制造的芯片特征尺寸越小。（）

3.标准单元库中的单元功能是固定不可变的。（）

4.逻辑综合只需要考虑功能，不需要考虑时序。（）

5.降低电源电压一定能降低芯片功耗。（）

6.版图设计中，线间距越大越好，无需考虑其他因素。（）

7.芯片测试中，只需要进行功能测试，不需要进行性能测试。（）

8.形式验证可以完全替代功能仿真。（）

9.多晶硅在VLSI中主要用于形成晶体管的栅极。（）

10.电源网格的设计对芯片的性能没有影响。（）

答案

1.×2.√3.×4.×5.×6.×7.×8.×9.√10.×

四、简答题（每题5分，共4题）

1.简述VLSI设计流程的主要阶段。

答：主要阶段有系统设计、逻辑设计、逻辑综合、布局、布线、版图验证、仿真测试等。系统设计确定功能需求；逻辑设计描述逻辑结构；综合转换为门级网表；布局布线完成物理设计；验证