掠入射XRD在半导体薄膜外延生长质量评估中的应用考核试卷.docVIP

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掠入射XRD在半导体薄膜外延生长质量评估中的应用考核试卷

一、单项选择题(每题1分,共30题)

1.掠入射XRD技术主要用于测量哪种样品的晶相结构?

A.块体材料

B.薄膜材料

C.纳米颗粒

D.液体材料

2.掠入射XRD技术中,掠入射角通常选择为多少度?

A.10°

B.20°

C.30°

D.40°

3.掠入射XRD技术的主要优势是什么?

A.高分辨率

B.高灵敏度

C.快速测量

D.大面积测量

4.掠入射XRD技术中,样品的表面粗糙度对测量结果有何影响?

A.增加测量误差

B.减少测量误差

C.无影响

D.不确定

5.掠入射XRD技术中,样品的厚度对测量结果有何影响?

A.增加测量误差

B.减少测量误差

C.无影响

D.不确定

6.掠入射XRD技术中,样品的晶粒尺寸对测量结果有何影响?

A.增加测量误差

B.减少测量误差

C.无影响

D.不确定

7.掠入射XRD技术中,样品的应力状态对测量结果有何影响?

A.增加测量误差

B.减少测量误差

C.无影响

D.不确定

8.掠入射XRD技术中,样品的缺陷对测量结果有何影响?

A.增加测量误差

B.减少测量误差

C.无影响

D.不确定

9.掠入射XRD技术中,样品的化学成分对测量结果有何影响?

A.增加测量误差

B.减少测量误差

C.无影响

D.不确定

10.掠入射XRD技术中,样品的温度对测量结果有何影响?

A.增加测量误差

B.减少测量误差

C.无影响

D.不确定

11.掠入射XRD技术中,样品的湿度对测量结果有何影响?

A.增加测量误差

B.减少测量误差

C.无影响

D.不确定

12.掠入射XRD技术中,样品的背景辐射对测量结果有何影响?

A.增加测量误差

B.减少测量误差

C.无影响

D.不确定

13.掠入射XRD技术中,样品的散射效应对测量结果有何影响?

A.增加测量误差

B.减少测量误差

C.无影响

D.不确定

14.掠入射XRD技术中,样品的吸收效应对测量结果有何影响?

A.增加测量误差

B.减少测量误差

C.无影响

D.不确定

15.掠入射XRD技术中,样品的反射率对测量结果有何影响?

A.增加测量误差

B.减少测量误差

C.无影响

D.不确定

16.掠入射XRD技术中,样品的透射率对测量结果有何影响?

A.增加测量误差

B.减少测量误差

C.无影响

D.不确定

17.掠入射XRD技术中,样品的散射角对测量结果有何影响?

A.增加测量误差

B.减少测量误差

C.无影响

D.不确定

18.掠入射XRD技术中,样品的探测器类型对测量结果有何影响?

A.增加测量误差

B.减少测量误差

C.无影响

D.不确定

19.掠入射XRD技术中,样品的X射线源类型对测量结果有何影响?

A.增加测量误差

B.减少测量误差

C.无影响

D.不确定

20.掠入射XRD技术中,样品的测量时间对测量结果有何影响?

A.增加测量误差

B.减少测量误差

C.无影响

D.不确定

21.掠入射XRD技术中,样品的测量距离对测量结果有何影响?

A.增加测量误差

B.减少测量误差

C.无影响

D.不确定

22.掠入射XRD技术中,样品的测量角度对测量结果有何影响?

A.增加测量误差

B.减少测量误差

C.无影响

D.不确定

23.掠入射XRD技术中,样品的测量环境对测量结果有何影响?

A.增加测量误差

B.减少测量误差

C.无影响

D.不确定

24.掠入射XRD技术中,样品的测量温度对测量结果有何影响?

A.增加测量误差

B.减少测量误差

C.无影响

D.不确定

25.掠入射XRD技术中,样品的测量湿度对测量结果有何影响?

A.增加测量误差

B.减少测量误差

C.无影响

D.不确定

26.掠入射XRD技术中,样品的测量背景辐射对测量结果有何影响?

A.增加测量误差

B.减少测量误差

C.无影响

D.不确定

27.掠入射XRD技术中,样品的测量散射效应对测量结果有何影响?

A.增加测量误差

B.减少测量误差

C.无影响

D.不确定

28.掠入射XRD技术中,样品的测量吸收效应对测量结果有何影响?

A.增加测量误差

B.减少测量误差

C.无影响

D.不确定

29.掠入射XRD技术中,样品的测量反射率对测量结果有何影响?

A.增加测量误差

B.减少测量误差

C.无影响

D.不确定

30.掠入射XRD技术中,样品的测量透射率对测量结果有何影响?

A.增加测量误差

B.减少测量误差

C.无影响

D.不确定

二、多项选择题(每题2分,共20题)

1.掠入射XRD技术的主要应用领域有哪些?

A.半导体薄膜

B.薄膜材料

C.纳米颗粒

D.块体材料

2.掠入射XRD技术的测量原理是什么?

A.散射效应

B.吸收效应

C.反射效应

D.透射效应

3.掠入射XRD技术的测量参数有哪些?

A.掠入射角

B.测量距离

C.测量

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