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探索VMM覆盖率导向验证方法：原理、应用与优化策略

一、引言

1.1研究背景

在信息技术飞速发展的当下，芯片作为各类电子设备的核心部件，其设计复杂度正以惊人的速度不断攀升。随着半导体工艺技术的持续进步，芯片能够集成的晶体管数量越来越多，功能也愈发丰富和强大。从早期简单的微处理器到如今高度集成的片上系统（SoC），芯片不仅要实现基本的计算功能，还需整合多种复杂的功能模块，如高速通信接口、图形处理单元、人工智能加速器等，以满足不同应用场景的多样化需求。

这种复杂度的急剧增加，给芯片验证工作带来了前所未有的挑战。在过去，当芯片设计规模较小、功能相对简单时，通过手动编写测试用例并进行仿真验证，尚可满