基于半导体多晶薄片的X射线探测器性能研究.pdf

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沈阳师范大学硕士学位论文

摘要

X射线探测是医疗成像、安全检查和工业检测等诸多应用领域中的关键技术。目前,

X

在射线探测的研究中所使用的主要是钙钛矿单晶材料,然而由于其具有制备工艺复杂

以及尺寸和厚度不可控等缺点,限制了其在大面积成像器件的应用。而多晶材料由于面

TFTX

积可缩放

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